XPS Surface Analysis of Materials

X-ray photoelectron spectroscopy, or XPS, is a surface analysis method for studying materials. It measures elemental composition, empirical formula, chemical state, and electronic state of the elements in a sample. Because the signal comes from the top few nanometers, XPS is especially useful for examining surfaces.

Röntgenfoto-elektronenspectroscopie, of XPS, is een niet-destructieve techniek die kan worden gebruikt om de oppervlaktechemie van een materiaal te meten. Bij XPS slaat een röntgenstraal met bekende energie op een atoom. Een kernschilelektron absorbeert het röntgenfoton en krijgt genoeg energie om zijn baan te verlaten.

Overtollige energie...