Gericht Ion Beam Frezen en Scanning Electron Microscopy van hersenweefsel

30.2K weergaven

Geciteerd door 104

08:57 min

6 juli 2011

10.3791/2588-v

6 juli 2011

30.2K weergaven

Dit protocol beschrijft hoe hars ingebed hersenweefsel kan worden voorbereid en afgebeeld in de drie dimensies in de gerichte ion beam, scanning electronen microscoop.

Meer video's verkennen

Focused Ion Beam

Chapters in this video

0:05

Title

1:29

Sample Fixation and Resin Embedding

4:00

Preparing the Sample for the FIB/SEM

5:55

Imaging the FIB/SEM

8:03

Results: FIB/SEM Images of Brain Tissue

8:40

Conclusion

Related Videos