Gericht Ion Beam Frezen en Scanning Electron Microscopy van hersenweefsel

30.3K weergaven

Geciteerd door 105

08:57 min.

6 juli 2011

10.3791/2588-v

6 juli 2011

30.3K weergaven
 ,  , 

Dit protocol beschrijft hoe hars ingebed hersenweefsel kan worden voorbereid en afgebeeld in de drie dimensies in de gerichte ion beam, scanning electronen microscoop.

Meer video's verkennen

Focused Ion Beam

Chapters in this video

0:05

Titel

1:29

Fixatie van monsters en inbedding in hars

4:00

Het monster voorbereiden voor de FIB/SEM

5:55

Beeldbestemming met de FIB/SEM

8:03

Resultaten: FIB/SEM-beelden van hersenweefsel

8:40

Conclusie

Related Videos