11.4K weergaven
•
Geciteerd door 2
•
11:30 min.
•
6 maart 2017
6 maart 2017
•Een Time Resolved Microwave Conductivity-techniek voor het onderzoeken van directe en val-gemedieerde recombinatiedynamiek en het bepalen van dragermobiliteiten van dunnefilm halfgeleiders wordt hier gepresenteerd.
Chapters in this video
0:05
Titel
0:38
Voorbereiding van het experiment
1:41
De vrijruimtelaser koppelen aan een vezel
2:41
De verliesfactor van de caviteit meten en het monster monteren
3:51
Kalibratie van de caviteitsgevoeligheid
5:10
De optimale meetparameters bepalen
7:17
Tijdsopgeloste microwave-geleidingssporen meten als functie van de microwave-sondefrequentie
8:01
Intensiteitsafhankelijke dataset
9:00
Resultaten: Tijdsopgeloste microwave-geleidingskarakterisering van recombinatiedynamica in CH3NH3PbI3
10:29
Conclusie
Related Videos
Copyright © 2026 MyJoVE Corporation. Alle rechten voorbehouden.