XPS Surface Analysis of Materials

X-ray photoelectron spectroscopy, or XPS, is a surface analysis method for studying materials. It measures elemental composition, empirical formula, chemical state, and electronic state of the elements in a sample. Because the signal comes from the top few nanometers, XPS is especially useful for examining surfaces.

Rentgenowska spektroskopia fotoelektronów lub XPS to nieniszcząca technika, którą można wykorzystać do pomiaru składu chemicznego powierzchni materiału. W XPS promieniowanie rentgenowskie o znanej energii uderza w atom. Elektron powłoki rdzenia absorbuje foton promieniowania rentgenowskiego, uzyskując wystarczającą ilość energii, aby opuścić swo...