$$\rightleftharpoonup{xx}$$
$$\longleftharp{xx}$$,
$$\longrightharp{xx}$$,
Ten film przedstawia protokół do analizy spektrometrycznej mas związków lotnych i wrażliwych na utlenianie za pomocą jonizacji uderzeniowej elektronów. Analiza związków lotnych i wrażliwych na utlenianie za pomocą spektrometrii mas nie jest łatwa do osiągnięcia, ponieważ wszystkie najnowocześniejsze metody spektrometrii mas wymagają co najmniej jednego etapu przygotowania próbki, np. rozpuszczenia i rozcieńczenia analitu (jonizacja elektronrozpylająca), kokrystalizacji analitu ze związkiem matrycowym (desorpcja/jonizacja laserowa wspomagana matrycą) lub przeniesienia przygotowanych próbek do źródła jonizacji spektrometru masowego, do przeprowadzenia w warunkach atmosferycznych. W tym miejscu opisano zastosowanie systemu wlotu próbki, który umożliwia analizę lotnych organyli, silanów i fosfanów metali za pomocą sektorowego spektrometru masowego wyposażonego w źródło jonizacji uderzeniowej elektronów. Wszystkie etapy przygotowania próbki i wprowadzenie próbki do źródła jonów spektrometru masowego odbywają się w warunkach bezpowietrznych lub w próżni, co umożliwia analizę związków wysoce podatnych na utlenianie. Przedstawiona technika jest szczególnie interesująca dla chemików nieorganicznych, pracujących z organylami metali, silanami lub fosfanami, z którymi należy obchodzić się w warunkach obojętnych, takich jak technika Schlenka. Zasada działania jest przedstawiona w tym filmie.