Method Article

Charakterystyka rozkładu wielkości nanokryształów za pomocą spektroskopii Ramana z wielocząsteczkowym modelem uwięzienia fononów

DOI:

10.3791/53026

August 22nd, 2015

In This Article

Summary

Loading...
$$\rightleftharpoonup{xx}$$ $$\longleftharp{xx}$$, $$\longrightharp{xx}$$,

Pokazujemy, jak określić rozkład wielkości nanokryształów półprzewodnikowych w sposób ilościowy za pomocą spektroskopii Ramanowskiej, wykorzystując analitycznie zdefiniowany model uwięzienia wielocząsteczkowych fononów. Uzyskane wyniki są doskonale zgodne z innymi technikami analizy wielkości, takimi jak transmisyjna mikroskopia elektronowa i spektroskopia fotoluminescencyjna.

Abstract

Loading...
$$\rightleftharpoonup{xx}$$ $$\longleftharp{xx}$$, $$\longrightharp{xx}$$,

Analiza rozkładu wielkości nanokryształów jest krytycznym wymogiem dla przetwarzania i optymalizacji ich właściwości zależnych od wielkości. Powszechnie stosowanymi technikami analizy wielkości są transmisyjna mikroskopia elektronowa (TEM), dyfrakcja rentgenowska (XRD) i spektroskopia fotoluminescencyjna (PL). Techniki te nie nadają się jednak do analizy rozkładu wielkości nanokryształów w szybki, nieniszczący i jednocześnie niezawodny sposób. Naszym celem w tej pracy jest wykazanie, że rozkład wielkości nanokryształów półprzewodnikowych, które podlegają zależnym od wielkości efektom uwięzienia fononów, można ilościowo oszacować w nieniszczący, szybki i wiarygodny sposób za pomocą spektroskopii Ramana. Co więcej, mieszane rozkłady wielkości mogą być oddzielnie sondowane, a ich odpowiednie stosunki objętościowe można oszacować za pomocą tej techniki. Aby przeanalizować rozkład wielkości, sformowaliśmy analityczne wyrażenie jednocząsteczkowego PCM i rzutowaliśmy je na ogólną funkcję rozkładu, która będzie reprezentować rozkład wielkości analizowanego nanokryształu. W ramach eksperymentu modelowego przeanalizowaliśmy rozkład wielkości wolnostojących nanokryształów krzemu (Si-NC) z multimodalnymi rozkładami wielkości. Szacowane rozkłady wielkości są doskonale zgodne z wynikami TEM i PL, co świadczy o wiarygodności naszego modelu.

Introduction

Loading...
$$\rightleftharpoonup{xx}$$ $$\longleftharp{xx}$$, $$\longrightharp{xx}$$,

Nanokryształy półprzewodnikowe przyciągają uwagę, ponieważ ich właściwości elektroniczne i optyczne można po prostu dostroić, zmieniając ich rozmiar w zakresie w porównaniu do odpowiednich promieni ekscytonu-Bohra. 1 Te unikalne cechy zależne od wielkości sprawiają, że nanokryształy te są odpowiednie dla różnych zastosowań technologicznych. Na przykład efekty namnażania nośników, obserwowane, gdy foton o wysokiej energii jest absorbowany przez nanokryształy CdSe, Si i Ge, można wykorzystać w koncepcji konwersji widma w zastosowaniach ogniw słonecznych; W zastosowaniach diod elektroluminescencyjnych (LED) można stosować emisję optyczną 2

Access restricted. Please log in or start a trial to view this content.

Protocol

Loading...
$$\rightleftharpoonup{xx}$$ $$\longleftharp{xx}$$, $$\longrightharp{xx}$$,

1. Planowanie eksperymentów

  1. Zsyntetyzować lub otrzymać interesujące nas nanokryształy13 (ryc. 1a).
  2. Unikaj pomyłek z sygnałem tła, upewniając się, że materiał podłoża nie ma nakładających się pików w widmie Ramana nanokryształów (rysunek 1a).
  3. Włącz laser w konfiguracji spektroskopii Ramana. Odczekaj wystarczająco dużo czasu (około 15 minut), aby intensywność lasera się ustabilizowała.
  4. Zmierz masowe odniesienie nanomateriału, który ma być poddany analizie12 (rysunek 1b), postępując zgodnie z etapami pomiaru opisanymi w kroku 2. Na podstawie pozycji piku mat....

Access restricted. Please log in or start a trial to view this content.

Results

Loading...
$$\rightleftharpoonup{xx}$$ $$\longleftharp{xx}$$, $$\longrightharp{xx}$$,

Do korzystania ze spektroskopii Ramana jako narzędzia do analizy rozmiaru, potrzebny jest model do wydobywania informacji związanych z rozmiarem z mierzonego widma Ramana. Rysunek 2 podsumowuje analityczny model uwięzienia wielocząsteczkowych fononów. 12 Zależna od wszystkich wielkości funkcja uwięzienia fononów (rysunek 2c) jest rzutowana na ogólną funkcję rozkładu wielkości (rysunek 2

Access restricted. Please log in or start a trial to view this content.

Discussion

Loading...
$$\rightleftharpoonup{xx}$$ $$\longleftharp{xx}$$, $$\longrightharp{xx}$$,

Pierwszym punktem dyskusji są kluczowe kroki w ramach protokołu. Aby szczyty nie pokrywały się z materiałem będącym przedmiotem zainteresowania, ważne jest, aby użyć innego rodzaju materiału podłoża, jak wspomniano w kroku 1.2. Na przykład, jeśli interesujące są Si-NC, nie używaj podłoża krzemowego do pomiarów Ramana. Na przykład na rysunku 1a Si-NC zsyntetyzowano na podłożach z pleksi, które mają całkowicie płaski sygnał mniej więcej w zakresie zainteresowania, tj.<.......

Access restricted. Please log in or start a trial to view this content.

Disclosures

Loading...
$$\rightleftharpoonup{xx}$$ $$\longleftharp{xx}$$, $$\longrightharp{xx}$$,

Autorzy nie mają nic do ujawnienia.

Acknowledgements

Loading...
$$\rightleftharpoonup{xx}$$ $$\longleftharp{xx}$$, $$\longrightharp{xx}$$,

Ta praca była częścią programu badawczego Fundacji Podstawowych Badań nad Materią (FOM), która jest częścią Holenderskiej Organizacji Badań Naukowych (NWO). Autorzy tej pracy dziękują M. J. F. van de Sande za umiejętną pomoc techniczną, M. A. Verheijenowi za obrazy TEM oraz grupie Toma Gregorkiewicza za pomiary PL.

....

Access restricted. Please log in or start a trial to view this content.

Materials

List of materials used in this article
NameCompanyCatalog NumberComments
Spektroskopia RamanaRenishawIn ViaWyposażony w laser arionowy 514 nm
Drut 3.0Narzędzie do zapisu spektroskopii ramanowskiejRenishaw
MathematicaWolframDo dopasowania, funkcji i określania rozmiaru
PodłożePleksiglas (aby uniknąć zbieżności sygnału z Si-NCs)
WafelSiOdniesienie do pozycji piku Si-NC
Spektroskopia334 nm Ar laser. Do optycznego rozkładu wielkości.
Transmisyjna mikroskopia elektronowaNatężenie wiązki 300 kV. Do określania wielkości i morfologii nanokryształów.
fotoluminescencyjna

References

Loading...
$$\rightleftharpoonup{xx}$$ $$\longleftharp{xx}$$, $$\longrightharp{xx}$$,
  1. Goller, B., Polisski, S., Wiggers, H., Kovalev, D. Freestanding spherical silicon nanocrystals: A model system for studying confined excitons. Appl Phys Lett. 97 (4), 041110(2010).
  2. Luo, J. -W., Franceschetti, A., Zunger, A.

Access restricted. Please log in or start a trial to view this content.

Reprints and Permissions

Request permission to reuse the text or figures of this JoVE article

Request Permission

Tags

Nanocrystal Size DistributionRaman SpectroscopyPhonon Confinement ModelSilicon NanocrystalsSize Distribution AnalysisNon destructive AnalysisTransmission Electron MicroscopyPhotoluminescence SpectroscopyMulti particle ModelSpectral Acquisition

Related Articles