$$\rightleftharpoonup{xx}$$
$$\longleftharp{xx}$$,
$$\longrightharp{xx}$$,
Analiza rozkładu wielkości nanokryształów jest krytycznym wymogiem dla przetwarzania i optymalizacji ich właściwości zależnych od wielkości. Powszechnie stosowanymi technikami analizy wielkości są transmisyjna mikroskopia elektronowa (TEM), dyfrakcja rentgenowska (XRD) i spektroskopia fotoluminescencyjna (PL). Techniki te nie nadają się jednak do analizy rozkładu wielkości nanokryształów w szybki, nieniszczący i jednocześnie niezawodny sposób. Naszym celem w tej pracy jest wykazanie, że rozkład wielkości nanokryształów półprzewodnikowych, które podlegają zależnym od wielkości efektom uwięzienia fononów, można ilościowo oszacować w nieniszczący, szybki i wiarygodny sposób za pomocą spektroskopii Ramana. Co więcej, mieszane rozkłady wielkości mogą być oddzielnie sondowane, a ich odpowiednie stosunki objętościowe można oszacować za pomocą tej techniki. Aby przeanalizować rozkład wielkości, sformowaliśmy analityczne wyrażenie jednocząsteczkowego PCM i rzutowaliśmy je na ogólną funkcję rozkładu, która będzie reprezentować rozkład wielkości analizowanego nanokryształu. W ramach eksperymentu modelowego przeanalizowaliśmy rozkład wielkości wolnostojących nanokryształów krzemu (Si-NC) z multimodalnymi rozkładami wielkości. Szacowane rozkłady wielkości są doskonale zgodne z wynikami TEM i PL, co świadczy o wiarygodności naszego modelu.