$$\rightleftharpoonup{xx}$$
$$\longleftharp{xx}$$,
$$\longrightharp{xx}$$,
Kwantyfikacja map mikroskopowych fluorescencji rentgenowskiej (XRF) poprzez dopasowanie surowych widm do znanego standardu jest kluczowa dla oceny składu chemicznego i rozkładu pierwiastków w materiale. XRF oparty na synchrotronie stał się integralną techniką charakteryzacji dla różnych tematów badawczych, szczególnie ze względu na jego nieniszczący charakter i wysoką czułość. Obecnie synchrotrony mogą pozyskiwać dane fluorescencyjne w rozdzielczościach przestrzennych znacznie poniżej mikrona, co pozwala na ocenę zmian składu w nanoskali. Dzięki odpowiedniej kwantyfikacji możliwe jest uzyskanie dogłębnego zrozumienia w wysokiej rozdzielczości segregacji pierwiastków, relacji stechiometrycznych i zachowań grupowych.
Ten artykuł wyjaśnia, jak korzystać z oprogramowania do dopasowania MAPS opracowanego przez Argonne National Laboratory do kwantyfikacji pełnych map XRF 2D. Jako przykład posłużymy się wynikami z ogniwa słonecznego Cu(In,Ga)Se2, wykonanymi na linii badawczej Advanced Photon Source 2-ID-D w Argonne National Laboratory. Pokazujemy standardową procedurę dopasowywania surowych danych, pokazujemy, jak ocenić jakość dopasowania i prezentujemy typowe dane wyjściowe generowane przez program. Ponadto w tym manuskrypcie omawiamy pewne ograniczenia oprogramowania i oferujemy sugestie, jak dalej korygować dane, aby były numerycznie dokładne i reprezentatywne dla przestrzennie rozdzielczych stężeń pierwiastków.