Wybór materiałów
Jako napełniacz ceramiczny wykorzystano nanoproszek α-tlenku glinu. Zgodnie ze specyfikacją producenta, proszek posiada wielkość ziarna wynoszącą około 40 nm, wyznaczoną poprzez poszerzenie linii rentgenowskiej, średnią wielkość cząstek (APS) 150 nm, wyznaczoną na podstawie powierzchni właściwej BET oraz SEM, oraz wielopunktową powierzchnię właściwą BET wynoszącą około 10 m2/g. Na podstawie wcześniejszych badań nad dyspersją cząstek w napełnionych systemach fotopolimerowych i epoksydowych32 stwierdzono, że bardzo niskie stężenia tlenku glinu (np. 5 vol%) powodują słabą odpowiedź fotoluminescencyjną i złą dyspersję cząstek, co czyni je nieprzydatnymi do optomechanicznego pomiaru naprężeń, natomiast wyższe stężenia (np. 20 vol%) powodowały znaczny wzrost lepkości, co utrudniało wstrzykiwanie i jednorodne mieszanie mieszaniny, mimo uzyskania silniejszego sygnału. Wybrano zatem stężenie 15 vol% tlenku glinu jako kompromis pomiędzy łatwością wytwarzania, wydajnością detekcji a jakością dyspersji.
Układ eksperymentalny
Konfiguracja przenośnego systemu piezospektroskopii (PPS)
W eksperymentach PL wykorzystano wcześniej opracowany przenośny system piezospektroskopii (PPS), składający się z sondy Raman RPB firmy InPhotonics Inc., która jest kompaktową, dwukierunkową sondą światłowodową wyposażoną w lustro dichroiczne i specjalnie zaprojektowaną soczewkę obiektywu f/333,34. Cały system PPS obejmuje komponenty sprzętowe i programowe. Część sprzętowa składa się ze spektrografu, urządzenia ładunkowego (CCD), lasera, światłowodów oraz komputera33,34. W zakresie oprogramowania wykorzystuje się dwa główne programy: MATLAB i LightField. Programy oparte na MATLAB są używane głównie do postprocesingu danych, natomiast LightField służy do gromadzenia danych z układu CCD. Rysunek 1 przedstawia kompletny układ eksperymentalny dla obu warunków utwardzania wraz z podstawową zasadą pomiaru, ilustrując konfiguracje kontaktową (forma) i bezkontenerową (lewitacja akustyczna) (Rysunek 1A i Rysunek 1B), naprężenia ściskające generowane w cząsteczkach tlenku glinu podczas zestalania żywicy (Rysunek 1C) oraz odpowiadające im przesunięcie piku fotoluminescencji wykorzystywane jako wskaźnik tych naprężeń (Rysunek 1D). W układzie z kontenerem uchwyt formy został umieszczony w tym samym miejscu, co centrum pola lewitacji akustycznej, aby zachować spójną geometrię między obiema konfiguracjami. Jednostka UV LED (długość fali 405 nm, moc znamionowa 10 W, obudowa z klasą szczelności IP66) została umieszczona w odległości 6 cm od próbki, a sonda światłowodowa została skierowana na próbkę w celu ciągłego zbierania sygnału fotoluminescencji podczas utwardzania. Diodę UV LED ustawiono tak, aby uniknąć bezpośredniego oświetlenia sondy światłowodowej, co zapobiegło uszkodzeniu światłowodu. Piki fotoluminescencji tlenku glinu były zbierane w czasie podczas utwardzania promieniami UV, a przesunięcia pików monitorowano, jak pokazano na Rysunku 1D. Podczas fotopolimeryzacji żywica zestala się wokół zatopionych cząsteczek tlenku glinu i ulega skurczowi polimeryzacyjnemu, generując lokalne naprężenia ściskające, które przenoszą się na cząsteczki tlenku glinu (Rysunek 1C), co powoduje przesunięcie piku fotoluminescencji z jego początkowej pozycji bezstresowej. Pozycje pików zostały następnie wyodrębnione z programu LightField, a przesunięcie piku obliczono w programie MATLAB poprzez porównanie każdej pozycji piku z początkową pozycją piku przed naświetlaniem UV.
Układ do synchrotronowej dyfrakcji rentgenowskiej
Pomiary synchrotronowej dyfrakcji rentgenowskiej (XRD) przeprowadzono in situ podczas procesu utwardzania na linii wiązki 6-ID-D w Advanced Photon Source w Argonne National Laboratory w USA. Rysunek 2 przedstawia układ synchrotronowego XRD dla warunków z kontaktem i bezkontaktowych, a także zasadę pomiaru pokazującą, w jaki sposób naprężenia wywołane utwardzaniem zmieniają odstępy sieciowe Al₂O₃, powodując wykrywalne przesunięcie piku (Rysunek 2A–C).

Rysunek 2. Układ synchrotronowej dyfrakcji rentgenowskiej i zasada pomiaru dla utwardzania z kontaktem oraz bezpojemnikowego. (A) Warunki z kontaktem, w których żywica jest umieszczona w formie podczas utwardzania UV i pomiaru XRD. (B) Warunki bezpojemnikowe, w których kropla żywicy jest zawieszona w polu lewitacji akustycznej podczas utwardzania UV i pomiaru XRD. (C) Naprężenia indukowane utwardzaniem zmieniają odstępy sieciowe tlenku glinu, co powoduje przesunięcie piku XRD wykorzystywane do obliczenia odkształcenia podczas krzepnięcia. Kliknij tutaj, aby wyświetlić powiększoną wersję tego rysunku.
Preparat naświetlano równoległą wiązką fotonów o energii 90.5 keV (odpowiadającą długości fali λ = 0.137 ˚A) o przybliżonych wymiarach 0.5 × 0.5 mm, umieszczoną mniej więcej w centrum preparatu, co przedstawiono na Rysunku 2A,B. Odległość od próbki do detektora ustawiono na około 1.5 m, aby zarejestrować interesujące piki tlenku glinu. Pierścieniowe dyfraktogramy rejestrowano za pomocą płaskiego detektora Varex XRD 4343RF (matryca 2880 × 2880 pikseli, rozmiar piksela 150 µm), umożliwiającego szybkie obrazowanie w czasie rzeczywistym z częstotliwością do 15 fps. Dane gromadzono przez całkowity czas akwizycji wynoszący 600 s na jeden eksperyment.
Podobnie jak w przypadku układu PPS, pomiary przeprowadzono zarówno w warunkach z kontaktem, jak i bezkontenerowo (Rysunek 2A,B). Diodę UV LED umieszczono w odległości 6 cm od próbki, zgodnie z konfiguracją PPS, a mocowanie formy i lewitującą próbkę ustawiono w tym samym miejscu pomiarowym, aby zachować spójność geometryczną. Cały zespół aparatury zamontowano na stole liniowym, co umożliwiło dopasowanie próbki z kontaktem lub lewitującej kuleczki do linii wiązki w zależności od potrzeb. Następnie monitorowano przesunięcia pików XRD w czasie podczas utwardzania UV (Rysunek 2C), ponieważ naprężenia wywołane utwardzaniem, przenoszone na zatopione cząsteczki tlenku glinu, powodują mierzalną zmianę odstępów sieciowych.
Przygotowanie próbek
Proszek tlenku glinu zmieszano w stężeniu 15 vol% z żywicą w zlewce/pojemniku do mieszania i wymieszano za pomocą pręta szklanego, aby zapewnić jednorodną dyspersję cząsteczek tlenku glinu, co przedstawiono na Rysunku 3A.

Rysunek 3. Schemat przygotowania próbek, dozowania i pomiarów in situ. (A) Proszek tlenku glinu i żywica w formie płynnej są mieszane w celu przygotowania jednorodnej zawiesiny nanokompozytu. (B) Przygotowaną zawiesinę dozuje się albo do pola lewitacji akustycznej w celu utworzenia bezpojemnikowej kropelki, albo do formy silikonowej w celu uzyskania warunków z kontaktem. (C) Pomiary PL i synchrotronowego XRD są przeprowadzane zarówno dla warunków utwardzania bezpojemnikowego, jak i z kontaktem, aby porównać zmiany widmowe odzwierciedlające naprężenia szczątkowe i ewolucję strukturalną. Kliknij tutaj, aby zobaczyć powiększoną wersję tego rysunku.
Formulację zawiesiny nanokompozytowej utrzymywano na mieszadle magnetycznym przez cały czas trwania eksperymentu, aby zapewnić dobre rozproszenie cząsteczek tlenku glinu. Po rozproszeniu zawiesinę wprowadzono do strzykawki dozującej w celu przygotowania do podania próbki, jak pokazano na Rysunku 3A. Przed każdym eksperymentem przygotowaną zawiesinę ładowano do strzykawki w celu dozowania do pola lewitacji akustycznej lub do formy silikonowej.
Dozowanie próbki i kontrolowana lewitacja
W przypadku warunków lewitacji akustycznej (bez użycia pojemnika), obszar węzła akustycznego został zlokalizowany przed dozowaniem. Napełnioną strzykawkę trzymano pod kątem około 45° względem płaszczyzny podstawy (Rysunek 3B), a zawiesinę powoli wstrzykiwano do lewitatora, aż do uzyskania stabilnego, eliptycznego kształtu kropelki w polu akustycznym, przy początkowej objętości dozowanej kropli około 5–7 µL, dostosowywanej w zależności od warunków pola akustycznego niezbędnych do utrzymania stabilnej kropelki. Po pomyślnym wstrzyknięciu amplitudę w oprogramowaniu do lewitacji dostosowano w celu stabilizacji kropelki.
W zależności od trybu pomiarowego zastosowano dwie różne konfiguracje akustycznego lewitatora jednoosiowego i dwuosiowego od tego samego producenta. Obie konfiguracje po aktywacji pracowały na automatycznie skalibrowanej częstotliwości rezonansowej wynoszącej około 22 400–22 450 Hz, przy czym częstotliwość robocza była ustalana przez automatyczną kalibrację urządzenia, a nie ręcznie. Do eksperymentów XRD z wykorzystaniem synchrotronu w Argonne National Laboratory (ANL) użyto konfiguracji jednoosiowej, składającej się z jednego przetwornika ultradźwiękowego umieszczonego nad jednym reflektorem, przy czym odstęp między przetwornikiem a reflektorem był ustalony zgodnie ze standardową konfiguracją producenta lewitatora. Do eksperymentów PPS zastosowano konfigurację dwuosiową, składającą się z dwóch przeciwległych przetworników ultradźwiękowych (górnego i dolnego), z podobnie ustalonym odstępem między przetwornikami zgodnie ze standardową konfiguracją producenta.
W obu konfiguracjach położenie węzła akustycznego oraz pozycja preparatu w polu były utrzymywane spójnie dla powtórzeń w obrębie jednej sesji: pozycję pierwszego naniesionego preparatu ustalano za pomocą laserowego przewodnika wyrównawczego, a kolejne preparaty nanoszono w tej samej pozycji referencyjnej, dzięki czemu nie było konieczności ponownego ustawiania ogniskowania wiązki i sondy dla każdego nowego preparatu.
W przypadku jednoosiowego systemu XRD amplitudę zwiększano do momentu, gdy dźwięk akustyczny emitowany przez lewitator stał się słyszalny, po czym za pomocą strzykawki wstrzyknięto zawiesinę do węzła. Następnie dostrojono amplitudę, aby zapewnić stabilną lewitację.
W przypadku dwuosiowego systemu PPS amplitudy górnego i dolnego przetwornika były dostosowywane niezależnie za pomocą oprogramowania, aż do momentu stabilnego uwięzienia kuleczki, i nie były ponownie korygowane przez resztę danego procesu utwardzania.
W obu konfiguracjach warunek lewitacji uznawano za dopuszczalny, gdy ruch kuleczki wokół węzła nie powodował przesunięcia próbki poza ognisko wiązki pomiarowej: w przypadku XRD kuleczka musiała pozostać wyrównana w obrębie śladu wiązki promieni rentgenowskich o szerokości ~500 µm w miejscu pomiaru (patrz Synchrotron X-ray Diffraction Setup); w przypadku PPS kuleczka musiała pozostać w plamce ogniskowania sondy światłowodowej, co potwierdzano poprzez ciągłą detekcję wyraźnego, dobrze zdefiniowanego piku fotoluminescencji tlenku glinu w oprogramowaniu do akwizycji danych w czasie rzeczywistym.
W przypadku warunków z kontaktem (forma silikonowa), zawiesina była dozowana bezpośrednio do formy za pomocą napełnionej strzykawki, co przedstawiono również na Rysunku 3B. Jamka formy miała wymiary 3 × 3 × 2 mm, a zawiesinę dozowano tak, aby całkowicie wypełnić objętość formy (~10,5 μL). Nadmiar zawiesiny usunięto z powierzchni formy, a następnie przykryto ją szklaną przykrywką. Następnie przeprowadzono eksperymenty PL i XRD dla obu warunków: bezkontenerowego oraz z kontaktem, jak pokazano na Rysunku 3C. Każdy eksperyment powtórzono w celu zapewnienia porównywalności i powtarzalności wyników.
In situ gromadzenie danych
Spektroskopia fotoluminescencyjna
Po umieszczeniu próbki w polu lewitacji akustycznej lub w formie włączono laser; podczas wszystkich operacji z użyciem lasera stosowano okulary ochronne. Punkt ogniskowania zoptymalizowano za pomocą oprogramowania LightField w celu zidentyfikowania najsilniejszego sygnału, co potwierdzono wizualnie jako najmniejszy i najjaśniejszy punkt lasera na próbce. Gromadzenie maksimów fotoluminescencji tlenku glinu rozpoczęto przed ekspozycją na promieniowanie UV, rejestrując maksima co 0,5 s. Po 5 s zbierania linii bazowej przed naświetlaniem UV aktywowano diodę UV LED, a gromadzenie danych kontynuowano przez 5 min, aby zapewnić całkowite utwardzenie próbki. Po utwardzeniu wyłączono diodę UV LED. W przypadku warunków bezkontaktowych utwardzoną kuleczkę przeniesiono do pojemnika; w przypadku warunków z kontaktem utwardzoną próbkę wyjęto z formy silikonowej za pomocą pęsety. Przez cały czas unikano bezpośredniego kontaktu z próbkami, aby zapobiec zanieczyszczeniom i podrażnieniu skóry.
Synchrotronowa dyfrakcja rentgenowska
Po umieszczeniu próbki wiązkę promieni rentgenowskich skierowano na środek próbki: na środek lewitującej kuleczki w przypadku warunków bezpojemnikowych oraz na środek próbki wewnątrz formy w przypadku warunków z kontaktem. Przed aktywacją wiązki promieni rentgenowskich zamknięto komorę eksperymentalną. Wiązkę promieni rentgenowskich oraz diodę UV włączono jednocześnie, a dane dyfrakcyjne gromadzono przez cały czas utwardzania promieniami UV. Gromadzenie danych kontynuowano do pełnego utwardzenia próbki; w niniejszym badaniu dane zbierano przez 10 min, aby uchwycić cały interesujący zakres procesu. Po utwardzeniu wyłączono diodę UV i wiązkę promieni rentgenowskich, a próbki odebrano w sposób opisany dla układu spektroskopowego, unikając bezpośredniego kontaktu w celu zapobieżenia kontaminacji i podrażnieniu skóry.
Analiza danych
Metoda dopasowania piku fotoluminescencji
Surowe widma fotoluminescencji zawierające piki R1 i R2 tlenku glinu (Rysunek 4A) zostały wyodrębnione z pełnego zbioru danych dotyczących utwardzania i zaimportowane do programu MATLAB w celu przeprowadzenia obróbki danych.

Rycina 4. Schemat analizy danych dla pomiarów PL i synchrotronnego XRD. (A) Widma PL są poddawane obróbce poprzez usuwanie tła oraz dopasowanie funkcji pseudo-Voigta do pików R1 i R2 tlenku glinu w celu wyznaczenia położenia pików podczas utwardzania. (B) Synchrotronowe pierścienie dyfrakcyjne XRD są przekształcane i integrowane do jednowymiarowego profilu dyfrakcyjnego, po czym następuje dopasowanie funkcji pseudo-Voigta do piku (116) tlenku glinu w celu wyznaczenia położenia piku i obliczenia odkształcenia wywołanego utwardzaniem. Kliknij tutaj, aby wyświetlić większą wersję tej ryciny.
Z każdego widma usunięto szum tła, a nachylona linia bazowa została skorygowana tak, aby była w przybliżeniu zgodna z osią x. W celu dokładnego dopasowania piku R1 i R2 zastosowano dopasowanie funkcją pseudo-Voigta dla pików fotoluminescencji tlenku glinu35. Piki dopasowano do funkcji pseudo-Voigta przy użyciu algorytmu nieliniowej optymalizacji z ograniczeniami (fmincon), przyjmując pole, pozycję centrum, FWHM oraz współczynnik kształtu (0 = czysty rozkład Gaussa, 1 = czysty rozkład Lorentza) jako cztery wolne parametry dla każdego piku (R1 i R2). Przed dopasowaniem z każdego widma odjęto liniowe tło, dopasowane do surowej intensywności przy 14300 i 14500 cm⁻1. Wstępne wartości parametrów oszacowano bezpośrednio z każdego wygładzonego i skorygowanego pod kątem linii bazowej widma, a granice dopasowania ustalono jako zakres procentowy wokół każdego wstępnego oszacowania (pole: 50–150%; FWHM: 60–180%). Jakość dopasowania oceniono za pomocą znormalizowanego błędu średniokwadratowego (NRMSE). Pozycje dopasowanych pików wyodrębniano w każdym punkcie czasowym w trakcie procesu utwardzania, a przesunięcia pików obliczono poprzez porównanie każdej dopasowanej pozycji z początkową wartością sprzed ekspozycji na UV.
Metoda dopasowania piku XRD
Dwuwymiarowe obrazy dyfrakcyjne zostały zaimportowane do oprogramowania do przetwarzania XRD lub do programu MATLAB w celu przeprowadzenia analizy. Dane XRD mogą być analizowane w celu uzyskania informacji o odkształceniu materiału36,37,38. Zidentyfikowano pierścienie dyfrakcyjne cząsteczek tlenku glinu (Ryc. 4B), a pierścień odpowiadający piku tlenku glinu (116) został wybrany ze względu na jego wyraźność w celu śledzenia zmian odstępów sieciowych. Identyfikacja pierścieni bezpośrednio na dwuwymiarowym obrazie dyfrakcyjnym na tym etapie służyła jako jakościowa kontrola jakości danych przed integracją, potwierdzając pełność i ciągłość pierścieni (co wskazuje na jednorodne oświetlenie próbki i brak przycinania wiązki), prawidłowe wyrównanie detektora i pozycję centrum oraz brak rozpraszania pasożytniczego lub artefaktów, które mogłyby zniekształcić profil zintegrowany. Po potwierdzeniu jakości pierścienia, wybrany pierścień został przekształcony w obraz transformowany azymutalnie i zintegrowany w pełnym zakresie azymutalnym 360°, aby uzyskać jednowymiarowy profil dyfrakcyjny, który następnie wykorzystano do ilościowego dopasowania pozycji piku w celu wyznaczenia odstępu d i obliczenia odkształcenia wywołanego sieciowaniem. Pik tlenku glinu (116) w profilu zintegrowanym dopasowano do funkcji pseudo-Voigta w celu wyznaczenia pozycji piku, a następnie wyekstrahowano go dla każdej klatki dyfrakcyjnej podczas sieciowania. Piki dopasowano do funkcji pseudo-Voigta przy użyciu nieliniowego algorytmu najmniejszych kwadratów (lsqnonlin), przyjmując intensywność, pozycję centrum, szerokość (FWHM) oraz kształt (stosunek Gaussa do Lorentza) jako parametry dopasowania. Przed dopasowaniem z każdego widma odjęto liniowe tło. Dopasowania były ograniczone więzami z tolerancją zbieżności 10⁻4. Zmianę odstępów sieciowych obliczono z dopasowanych pozycji piku, korzystając z prawa Bragga:

gdzie d to odstęp sieciowy, n to rząd dyfrakcyjny, λ to długość fali promieniowania rentgenowskiego, a θ to kąt Bragga. W celu bezpośredniego porównania z wzorcami dyfrakcyjnymi dla tlenku glinu, które konwencjonalnie indeksuje się przy użyciu promieniowania Cu Ka, zmierzone odstępy d wykorzystano dodatkowo do obliczenia równoważnej wartości 2θ odpowiadającej promieniowaniu Cu Ka o λ = 1.54056 Å zgodnie z prawem Bragga. Do osi kąta dyfrakcji wykorzystano tę konwencjonalną równoważną skalę 2θ, a nie natywną synchrotronową skalę 2θ (λ = 0.137 Å). Odkształcenie wywołane utwardzaniem obliczono następnie poprzez porównanie odstępów sieciowych w każdym punkcie czasowym z wartością początkową przed ekspozycją na UV:

gdzie dt = n s to stała sieciowa w każdym punkcie czasowym podczas utwardzania, a d0 to początkowa stała sieciowa przed naświetlaniem UV.