Wybór materiałów
Jako napełniacz ceramiczny wykorzystano nanoproszek α-Alumina. Zgodnie ze specyfikacją producenta, proszek posiada wielkość ziarna wynoszącą około 40 nm, wyznaczoną metodą poszerzenia linii rentgenowskich, średnią wielkość cząstek (APS) 150 nm, wyznaczoną na podstawie powierzchni właściwej BET i SEM, oraz wielopunktową powierzchnię właściwą BET wynoszącą około 10 m2/g. Na podstawie wcześniejszych badań dyspersji cząstek w wypełnionych systemach fotopolimerowych i epoksydowych32 stwierdzono, że bardzo niskie zawartości tlenku glinu (np. 5 vol%) powodują słabą odpowiedź fotoluminescencyjną i słabą dyspersję cząstek, co czyni je nieprzydatnymi do optomechanicznego pomiaru naprężeń, podczas gdy wyższe zawartości (np. 20 vol%) powodowały znaczny wzrost lepkości, co utrudniało wstrzykiwanie i jednorodne mieszanie mieszaniny, mimo zapewnienia silniejszego sygnału. Wybrano zatem stężenie tlenku glinu na poziomie 15 vol% jako kompromis między łatwością wykonania, wydajnością pomiarową a jakością dyspersji.
Układ doświadczalny
Konfiguracja przenośnego systemu piezospektroskopii (PPS)
W eksperymentach PL wykorzystano wcześniej opracowany system przenośnej piezospektroskopii (PPS), składający się z sondy Raman RPB firmy InPhotonics Inc., która jest kompaktową, dwukierunkową sondą światłowodową wyposażoną w lustro dichroiczne i specjalnie zaprojektowaną soczewkę obiektywu f/333,34. Cały system PPS obejmuje komponenty sprzętowe oraz programowe. Sprzęt składa się ze spektrografu, detektora CCD (charge-coupled device), lasera, światłowodów i komputera33,34. W zakresie oprogramowania wykorzystuje się dwa główne programy: MATLAB i LightField. Programy oparte na środowisku MATLAB służą głównie do postprocesingu danych, natomiast LightField jest wykorzystywany do zbierania danych z detektora CCD. Rycina 1 przedstawia pełny układ eksperymentalny dla obu warunków utwardzania wraz z podstawową zasadą pomiaru, ilustrując konfiguracje z kontaktem (forma) i bezkontenerową (lewitacja akustyczna) (Rycina 1A oraz Rycina 1B), naprężenia ściskające generowane w cząstkach Al₂O₃ podczas krzepnięcia żywicy (Rycina 1C) oraz odpowiadające im przesunięcie piku fotoluminescencji, służące jako wskaźnik tych naprężeń (Rycina 1D). W układzie z kontenerem uchwyt formy został umieszczony w tym samym miejscu, co centrum pola lewitacji akustycznej, aby zachować spójną geometrię między obiema konfiguracjami. Jednostka UV LED (długość fali 405 nm, moc znamionowa 10 W, obudowa o stopniu ochrony IP66) została umieszczona w odległości 6 cm od próbki, a sonda światłowodowa została skierowana na próbkę w celu ciągłego zbierania sygnału fotoluminescencji podczas utwardzania. Diodę UV LED rozmieszczono tak, aby uniknąć bezpośredniego naświetlania sondy światłowodowej, co zapobiega uszkodzeniu światłowodu. Piki fotoluminescencji Al₂O₃ zbierano w czasie podczas utwardzania promieniami UV, a przesunięcia pików monitorowano, jak pokazano na Rycini 1D. Podczas fotopolimeryzacji żywica krzepnie wokół zatopionych cząstek Al₂O₃ i ulega skurczowi polimeryzacyjnemu, generując lokalne naprężenia ściskające, które są przenoszone na cząstki Al₂O₃ (Rycina 1C), co powoduje przesunięcie piku fotoluminescencji z jego początkowej pozycji bezstresowej. Następnie pozycje pików wyodrębniono z programu LightField, a przesunięcie piku obliczono w programie MATLAB poprzez porównanie pozycji każdego piku z początkową pozycją piku przed ekspozycją na promieniowanie UV.
Układ do synchrotronowej dyfrakcji rentgenowskiej
Pomiary synchrotronnej dyfrakcji rentgenowskiej (XRD) przeprowadzono in situ podczas procesu sieciowania na linii wiązki 6-ID-D w Advanced Photon Source w Argonne National Laboratory w USA. Rysunek 2 przedstawia układ synchrotronowej dyfrakcji XRD zarówno dla warunków z kontaktem, jak i bezkontenerowych, wraz z zasadą pomiaru pokazującą, w jaki sposób naprężenia indukowane sieciowaniem zmieniają odstępy sieciowe Al₂O₃, co prowadzi do wykrywalnego przesunięcia piku (Rysunek 2A–C).

Rycina 2. Układ synchrotronowej dyfrakcji rentgenowskiej oraz zasada pomiaru dla utwardzania z kontaktem i bezkontenerowego. (A) Warunki z kontaktem, w których żywica jest umieszczona w formie podczas utwardzania UV i pomiaru XRD. (B) Warunki bezkontenerowe, w których kropla żywicy jest zawieszona w polu lewitacji akustycznej podczas utwardzania UV i pomiaru XRD. (C) Naprężenia indukowane utwardzaniem zmieniają odstępy w sieci tlenku glinu, co powoduje przesunięcie piku XRD wykorzystywane do obliczenia odkształcenia podczas krzepnięcia. Kliknij tutaj, aby wyświetlić większą wersję tej ryciny.
Próbkę naświetlono równoległą wiązką fotonów o energii 90,5 keV (odpowiadającą długości fali λ = 0,137 ˚A) o przybliżonych wymiarach 0,5 × 0,5 mm, ustawioną mniej więcej w centrum próbki, jak pokazano na Rysunku 2A,B. Odległość próbki od detektora ustawiono na około 1,5 m, aby zarejestrować interesujące piki tlenku glinu. Pierścieniowe wzory dyfrakcyjne zapisywano na detektorze płaskiego panela Varex XRD 4343RF (matryca 2880 × 2880 pikseli, rozmiar piksela 150 µm), umożliwiającym szybkie obrazowanie w czasie rzeczywistym z częstotliwością do 15 fps. Dane gromadzono przez całkowity czas akwizycji wynoszący 600 s na jeden eksperyment.
Podobnie jak w przypadku konfiguracji PPS, pomiary przeprowadzono zarówno w warunkach z kontaktem, jak i bezkontenerowo (Rycina 2A,B). dioda UV LED została umieszczona w odległości 6 cm od próbki, zgodnie z konfiguracją PPS, a uchwyt formy oraz lewitująca próbka zostały ustawione w tym samym miejscu pomiaru, aby zachować spójność geometryczną. Cały zestaw aparatury zamontowano na stole liniowym, aby umożliwić dopasowanie próbki z kontaktem lub lewitującej kuleczki do linii wiązki w razie potrzeby. Następnie monitorowano przesunięcia pików XRD w czasie trwania utwardzania UV (Rycina 2C), ponieważ naprężenia wywołane utwardzaniem, przeniesione na zatopione cząsteczki Al₂O₃, powodują mierzalną zmianę parametrów sieci krystalicznej.
Przygotowanie próbek
Proszek tlenku glinu zmieszano w proporcji 15 vol% z żywicą w zlewce/pojemniku do mieszania i wymieszano za pomocą pręta szklanego, aby uzyskać jednorodną dyspersję cząsteczek tlenku glinu, co przedstawiono na Rysunku 3A.

Rycina 3. Schemat przygotowania próbek, dozowania i pomiaru in situ. (A) Proszek tlenku glinu i żywica w formie płynnej są mieszane w celu przygotowania homogenicznej zawiesiny nanokompozytowej. (B) Przygotowana zawiesina jest dozowana albo do pola lewitacji akustycznej w celu utworzenia bezpojemowej kuleczki, albo do formy silikonowej dla warunków z kontaktem. (C) Pomiary PL i XRD w synchrotronie są przeprowadzane zarówno dla warunków utwardzania bezpojemowego, jak i z kontaktem, aby porównać zmiany widmowe odzwierciedlające naprężenia szczątkowe i ewolucję strukturalną. Aby zobaczyć powiększoną wersję tej ryciny, kliknij tutaj.
Formulację zawiesiny nanokompozytowej utrzymywano na mieszadle magnetycznym przez cały czas trwania eksperymentu, aby zapewnić odpowiednie rozproszenie cząsteczek tlenku glinu. Po rozproszeniu zawiesinę wprowadzono do strzykawki dozującej w celu przygotowania do podania próbki, jak pokazano na Rysunku 3A. Przed każdym eksperymentem przygotowaną zawiesinę ładowano do strzykawki w celu dozowania do pola lewitacji akustycznej lub do formy silikonowej.
Dozowanie próbki i kontrolowana lewitacja
W przypadku warunków lewitacji akustycznej (bezpojemnościowej), obszar węzła akustycznego został zlokalizowany przed dozowaniem. Napełniona strzykawka była trzymana pod kątem około 45° względem płaszczyzny podłoża (Rysunek 3B), a zawiesina była powoli wstrzykiwana do lewitatora, aż do uzyskania stabilnego, eliptycznego kształtu kropli w polu akustycznym. Początkowa objętość dozowanej kropli wynosiła około 5–7 µL i była dostosowywana w zależności od warunków pola akustycznego wymaganych do utrzymania stabilnej kropli. Po pomyślnym wstrzyknięciu, w oprogramowaniu do lewitacji dostosowano amplitudę, aby ustabilizować kroplę.
W zależności od modalités pomiarowej zastosowano dwie różne konfiguracje akustycznego lewitatora jednoosiowego i dwuosiowego od tego samego producenta. Obie konfiguracje po uruchomieniu działały na automatycznie skalibrowanej częstotliwości rezonansowej wynoszącej około 22 400–22 450 Hz, przy czym częstotliwość robocza była ustalana przez automatyczną kalibrację urządzenia, a nie ręcznie. W eksperymentach XRD na synchrotronie w Argonne National Laboratory (ANL) wykorzystano konfigurację jednoosiową, składającą się z jednego przetwornika ultradźwiękowego umieszczonego nad jednym reflektorem, przy czym odstęp między przetwornikiem a reflektorem był stały, zgodnie ze standardową konfiguracją producenta lewitatora. W eksperymentach PPS zastosowano konfigurację dwuosiową, składającą się z dwóch przeciwległych przetworników ultradźwiękowych (górnego i dolnego), z analogicznie ustalonym odstępem między przetwornikami zgodnie ze standardową konfiguracją producenta.
W obu konfiguracjach położenie węzła akustycznego oraz pozycja preparatu w polu były utrzymywane w sposób spójny dla powtórzeń w obrębie jednej sesji: pozycję pierwszego dozowanego preparatu ustawiano za pomocą laserowego prowadnika wyrównawczego, a kolejne preparaty dozowano w tej samej pozycji referencyjnej, tak aby nie było konieczności ponownego ustawiania ogniskowania wiązki i sondy dla każdego nowego preparatu.
W przypadku jednoosiowego układu XRD zwiększano amplitudę do momentu, aż ton akustyczny emitowany przez lewitator stał się słyszalny, po czym za pomocą strzykawki wstrzyknięto zawiesinę do węzła. Następnie skorygowano amplitudę, aby zapewnić stabilną lewitację.
W przypadku systemu PPS o dwóch osiach amplitudy górnego i dolnego przetwornika były dostrajane niezależnie za pomocą oprogramowania, aż do momentu stabilnego uwięzienia kuleczki, i nie były ponownie korygowane przez resztę danego cyklu utwardzania.
W obu konfiguracjach warunki lewitacji uznano za dopuszczalne, gdy ruch kuleczki wokół węzła nie wyprowadzał próbki poza obszar ogniskowania wiązki pomiarowej: w przypadku XRD kuleczka musiała pozostawać wyrównana w obrębie obszaru naświetlania wiązki rentgenowskiej o szerokości ~500 µm w miejscu pomiaru (patrz Synchrotron X-ray Diffraction Setup); w przypadku PPS kuleczka musiała pozostawać w plamce ogniskowania sondy światłowodowej, co potwierdzano poprzez ciągłą detekcję wyraźnego, dobrze zdefiniowanego piku fotoluminescencji Al₂O₃ w oprogramowaniu do akwizycji danych w czasie rzeczywistym.
W przypadku warunku z kontaktem (forma silikonowa), zawiesina została wprowadzona bezpośrednio do formy za pomocą napełnionej strzykawki, co zilustrowano również na Rysunku 3B. Wymiary wnęki formy wynosiły 3 × 3 × 2 mm, a zawiesinę dozowano tak, aby całkowicie wypełnić objętość formy (~10,5 μL). Nadmiar zawiesiny usunięto z powierzchni formy, a następnie przykryto ją szklaną pokrywką. Następnie przeprowadzono eksperymenty PL oraz XRD dla obu warunków: bezkontenerowego i z kontaktem, jak pokazano na Rysunku 3C. Każdy eksperyment powtórzono, aby zapewnić porównywalność i powtarzalność wyników.
In situ gromadzenie danych
Spektroskopia fotoluminescencyjna
Po umieszczeniu próbki w polu lewitacji akustycznej lub w formie włączono laser; podczas wszystkich operacji z użyciem lasera noszono okulary ochronne. Punkt ogniskowania zoptymalizowano za pomocą oprogramowania LightField w celu zidentyfikowania najsilniejszego sygnału, co potwierdzono wizualnie jako najmniejsza i najjaśniejsza plamka laserowa na próbce. Gromadzenie pików fotoluminescencji tlenku glinu rozpoczęto przed ekspozycją na promieniowanie UV, rejestrując piki co 0,5 s. Po 5 s gromadzenia linii bazowej przed naświetlaniem UV aktywowano diodę LED UV i kontynuowano zbieranie danych przez 5 min, aby zapewnić całkowite utwardzenie próbki. Po utwardzeniu wyłączono diodę LED UV. W przypadku warunków bezkontenerowych utwardzoną kuleczkę przeniesiono do pojemnika; w przypadku warunków z kontaktem utwardzoną próbkę wyjęto z formy silikonowej za pomocą pęsety. Przez cały czas unikano bezpośredniego kontaktu z próbkami, aby zapobiec kontaminacji i podrażnieniu skóry.
Synchrotronowa dyfrakcja rentgenowska
Po umieszczeniu próbki wiązkę promieni rentgenowskich skierowano na środek próbki: środek lewitującej kuleczki w przypadku warunków bezkontenerowych oraz środek próbki wewnątrz formy w przypadku warunków z kontaktem. Przed aktywacją wiązki promieni rentgenowskich zamknięto komorę eksperymentalną. Wiązkę promieni rentgenowskich oraz diodę UV włączono jednocześnie, a dane dyfrakcyjne zbierano przez cały czas trwania utwardzania promieniami UV. Gromadzenie danych kontynuowano do momentu całkowitego utwardzenia próbki; w niniejszym badaniu dane zbierano przez 10 min, aby uchwycić pełny zakres interesujących zmian. Po utwardzeniu wyłączono diodę UV i wiązkę promieni rentgenowskich, a próbki pobrano zgodnie z opisem dla układu spektroskopowego, unikając bezpośredniego kontaktu, aby zapobiec kontaminacji i podrażnieniu skóry.
Analiza danych
Metoda dopasowania piku fotoluminescencji
Surowe widma fotoluminescencji zawierające piki R1 i R2 tlenku glinu (Rysunek 4A) zostały wyekstrahowane z pełnego zbioru danych dotyczących utwardzania i zaimportowane do programu MATLAB w celu dalszej analizy.

Rysunek 4. Schemat analizy danych dla pomiarów PL i synchrotronowego XRD. (A) Widma PL poddawane są procesowi usuwania tła oraz dopasowywania funkcji pseudo-Voigta do pików R1 i R2 tlenku glinu w celu wyznaczenia pozycji pików podczas utwardzania. (B) Pierścienie dyfrakcyjne synchrotronowego XRD są przekształcane i integrowane w jednowymiarowy profil dyfrakcyjny, po czym następuje dopasowanie funkcji pseudo-Voigta do piku (116) tlenku glinu w celu wyznaczenia pozycji piku i obliczenia odkształcenia wywołanego utwardzaniem. Proszę kliknąć tutaj, aby wyświetlić powiększoną wersję tego rysunku.
Z każdego widma usunięto szum tła, a nachyloną linię bazową skorygowano tak, aby była w przybliżeniu wyrównana z osią x. W celu dokładnego dopasowania pików R1 i R2 zastosowano dopasowanie funkcją Pseudo-Voigta do pików fotoluminescencji tlenku glinu35. Piki dopasowano do funkcji Pseudo-Voigta za pomocą ograniczonego algorytmu optymalizacji nieliniowej (fmincon), przyjmując pole, pozycję centrum, FWHM oraz współczynnik kształtu (0 = czysty rozkład Gaussa, 1 = czysty rozkład Lorentza) jako cztery wolne parametry dla każdego piku (R1 i R2). Przed dopasowaniem z każdego widma odjęto liniowe tło, dopasowane do surowej intensywności przy 14300 i 14500 cm⁻1. Wstępne wartości parametrów oszacowano bezpośrednio z każdego wygładzonego i skorygowanego pod kątem linii bazowej widma, a granice dopasowania określono jako zakres procentowy wokół każdej wstępnej wartości (pole: 50–150%; FWHM: 60–180%). Jakość dopasowania oceniono za pomocą znormalizowanego błędu średnio kwadratowego (NRMSE). Pozycje dopasowanych pików wyodrębniono dla każdego punktu czasowego w trakcie procesu utwardzania, a przesunięcia pików obliczono poprzez porównanie każdej dopasowanej pozycji z wartością początkową przed naświetlaniem UV.
Metoda dopasowania piku XRD
Dwuwymiarowe obrazy dyfrakcyjne zaimportowano do oprogramowania do przetwarzania XRD lub programu MATLAB w celu przeprowadzenia analizy. Dane XRD mogą być analizowane w celu uzyskania informacji o odkształceniu materiału36,37,38. Zidentyfikowano pierścienie dyfrakcyjne cząsteczek tlenku glinu (Rycina 4B), a pierścień odpowiadający piku tlenku glinu (116) wybrano ze względu na jego wyraźność do śledzenia zmian odstępów sieciowych. Identyfikacja pierścieni bezpośrednio na dwuwymiarowym obrazie dyfrakcyjnym na tym etapie służyła jako jakościowa weryfikacja jakości danych przed całkowaniem, potwierdzając obecność pełnych i ciągłych pierścieni (co wskazuje na jednorodne oświetlenie próbki i brak przycinania wiązki), prawidłowe wyrównanie detektora i pozycję centrum oraz brak rozpraszania pasożytniczego lub artefaktów, które mogłyby zniekształcić profil całkowany. Po potwierdzeniu jakości pierścienia, wybrany pierścień został przekształcony w obraz transformowany azymutalnie i całkowany w pełnym zakresie azymutalnym 360°, aby uzyskać jednowymiarowy profil dyfrakcyjny, który następnie wykorzystano do ilościowego dopasowania pozycji piku w celu wyznaczenia odstępu d oraz obliczenia odkształcenia indukowanego utwardzaniem. Pik tlenku glinu (116) w profilu całkowanym dopasowano do funkcji pseudo-Voigta w celu wyznaczenia pozycji piku, a następnie wyekstrahowano go dla każdej ramki dyfrakcyjnej podczas procesu utwardzania. Piki dopasowywano do funkcji pseudo-Voigta przy użyciu nieliniowego algorytmu najmniejszych kwadratów (lsqnonlin), przyjmując intensywność, pozycję centrum, szerokość (FWHM) oraz kształt (stosunek Gaussa do Lorentza) jako parametry dopasowania. Przed dopasowaniem z każdego widma odjęto liniowe tło. Dopasowania były ograniczone więzami z tolerancją zbieżności 10⁻4. Zmianę odstępów sieciowych obliczono z dopasowanych pozycji pików, korzystając z prawa Bragga:

gdzie d jest przerwą sieciową, n to rząd dyfrakcyjny, λ to długość fali promieni rentgenowskich, a θ to kąt Bragga. W celu bezpośredniego porównania z standardowymi wzorcami dyfrakcyjnymi tlenku glinu, które są konwencjonalnie indeksowane przy użyciu promieniowania Cu Ka, zmierzone przerwy d wykorzystano dodatkowo do obliczenia równoważnej wartości 2θ odpowiadającej promieniowaniu Cu Ka o λ = 1.54056 Å zgodnie z prawem Bragga. Do osi kąta dyfrakcyjnego użyto tej konwencjonalnej równoważnej skali 2θ, a nie rodzimej skali 2θ synchrotronu (λ = 0.137 Å). Odkształcenie wywołane utwardzaniem obliczono następnie poprzez porównanie przerwy sieciowej w każdym punkcie czasowym z wartością początkową przed ekspozycją na promieniowanie UV:

gdzie dt = n s to odstęp sieciowy w każdym punkcie czasowym podczas utwardzania, a d0 to początkowy odstęp sieciowy przed ekspozycją na UV.