Poniższa procedura dotyczy określonego urządzenia XPS i powiązanego z nim oprogramowania, a w przypadku korzystania z innych urządzeń mogą wystąpić pewne różnice.
Źródło: Faisal Alamgir, Szkoła Materiałoznawstwa i Inżynierii, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA
Rentgenowska spektroskopia fotoelektronów…
Rozdziały w tym filmie
0:08
Przegląd
1:01
Zasady spektroskopii fotoelektronów w promieniach X
3:01
Wprowadzanie próbki do badania
5:06
Rejestracja widma XPS
7:14
Wyniki
7:48
Zastosowania
8:52
Podsumowanie
Prawa autorskie © 2026 MyJoVE Corporation. Wszelkie prawa zastrzeżone.