4.5K wyświetleń
•
07:20 min.
•
20 stycznia 2023
20 stycznia 2023
•Wykorzystując zmianę objętości nanocząstek Si podczas (de)litacji, obecny protokół opisuje metodę przesiewową potencjalnych powłok dla baterii półprzewodnikowych za pomocą transmisyjnej mikroskopii elektronowej in situ.
Chapters in this video
0:04
Introduction
1:00
Preparation of Half‐Cut TEM Grids with Coated Si Nanoparticles for Checking the Suitability of ALD‐Deposited Titanium Dioxide Coatings
1:53
Preparing the Tungsten Needle
2:37
Loading the Drop‐Casted TEM Grid and Lithium Loaded Tungsten Needle into the In Situ TEM Holder
3:15
Inserting the Assembled In Situ Holder into the TEM
4:02
Performing the In Situ Biasing Experiment in the TEM and Analyzing the TEM Images
5:37
Results: Screening Method of Potential Coatings for All‐Solid‐State Batteries Using In Situ Transmission Electron Microscopy
6:28
Conclusion
Related Videos
Prawa autorskie © 2026 MyJoVE Corporation. Wszelkie prawa zastrzeżone.