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A microscopia de força atômica ou AFM gera uma imagem usando uma nanossonda para fornecer informações topográficas sobre uma amostra com resolução nanométrica.
Quando um microscópio ótico puder ampliar até 1000X, o potencial da ampliação de AFM é até 1.000.000X.
O AFM pode criar imagens de espécimes fixos e vivos, permitindo capturar processos celulares dinâmicos, como a dinâmica da actina.
A ponta de prova do AFM é unida à extremidade de um modilhão flexível, e junto fazem a varredura a amostra. A sonda segue os contornos da superfície da amostra, movendo-se para cima e para baixo, o que desloca o cantilever.
Em um tipo de AFM, um feixe de laser é apontado para o cantilever e, à medida que se move, o reflexo do laser também se move.
Um fotodetector sensível à posição registra a deflexão do feixe de laser.
Os dados são enviados para um computador onde o software pode processá-los para gerar uma imagem tridimensional da superfície da amostra.
A microscopia de força atômica (AFM) é um tipo de microscopia de varredura por sonda que pode analisar detalhes topográficos de várias amostras, como…
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