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आयन Sputtering में अनुप्रयोग, लेजर पृथक, ट्राइबोलॉजी और प्रयोगों सफेद लाइट इंटरफेरोमेट्री संशोधनों सतह की विशेषता
 
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आयन Sputtering में अनुप्रयोग, लेजर पृथक, ट्राइबोलॉजी और प्रयोगों सफेद लाइट इंटरफेरोमेट्री संशोधनों सतह की विशेषता

Article DOI: 10.3791/50260-v 11:47 min February 27th, 2013
February 27th, 2013

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व्हाइट प्रकाश माइक्रोस्कोप इंटरफेरोमेट्री सतहों की स्थलाकृति को मापने के लिए एक ऑप्टिकल noncontact, और त्वरित तरीका है. यह यांत्रिक पहनते विश्लेषण, जहां पहनना tribological परीक्षण के नमूने विश्लेषण कर रहे हैं पर निशान की ओर विधि को कैसे लागू किया जा सकता है, और विज्ञान के क्षेत्र में सामग्री आयन बीम sputtering या लेजर पृथक मात्रा और गहराई का निर्धारण करने के लिए दिखाया गया है.

Tags

सामग्री विज्ञान 72 अंक भौतिकी आयन बीम (परमाणु बातचीत) प्रकाश प्रतिबिंब ऑप्टिकल गुण सेमीकंडक्टर सामग्री सफेद लाइट इंटरफेरोमेट्री आयन sputtering लेजर पृथक Femtosecond लेजर गहराई रूपरेखा समय की उड़ान मास स्पेक्ट्रोमेट्री ट्राइबोलॉजी विश्लेषण पहनें ऑप्टिकल profilometry पहनने घर्षण परमाणु शक्ति माइक्रोस्कोपी AFM इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी स्कैनिंग SEM इमेजिंग दृश्य
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