April 6th, 2020
A tecnologia de relevo quente tipo impressão de impacto usa um cabeçalho de impacto para gravar padrões de ponto em materiais flexíveis em tempo real. Esta tecnologia tem um sistema de controle para controlar o movimento on-off e a posição do cabeçalho de impacto para criar padrões de pontilhamento com várias larguras e profundidades em diferentes pelímeros de polímero.
A tecnologia Desembosa quente tipo impressão de impacto pode fazer padrões de ponto que podem alterar a largura e a profundidade do padrão em tempo real, em vários tipos de filmes de polímeros, usando um padrão de impacto. Comparado com a tecnologia de relevo quente existente, o custo da forma de padrão prensado é significativamente menor e a forma de relevo arbitrário pode ser feita em tempo real. Nossa tecnologia pode ser aplicada ao campo de bioativos e esses dispositivos podem ajudar a verificar a condição ou doença do paciente lendo os bioassinários do usuário.
Se o calor da eletricidade estiver muito baixo, o cabeçalho de impacto pode rasgar o filme do polímero ou a cabeça de impacto pode desgastar. Portanto, encontrar um calor de eletricidade adequado a partir de experimentos repetitivos é importante. Comece fazendo o modelo um e combine-o com um estágio X.
Combine o estágio X e o palco Z, e monte o estágio Z e o modelo dois. Em seguida, misture o modelo dois e o cabeçalho de impacto, e coloque a placa de calor abaixo do modelo um. Instale dois suportes de filme na extremidade da placa de calor e fixe a película do polímero no suporte do filme.
Em seguida, para garantir que o filme de polímero seja plano na placa de calor, puxe o filme de polímero o máximo possível usando o motion um do suporte do filme. Alternativamente, para mover o filme polímero para o lado, mova o suporte do filme através do movimento dois. Finalmente, conecte o dispositivo de controle que envia os sinais ao cabeçalho de impacto para controlá-lo, e insira menos 3v e mais 10v como sinais de controle no cabeçalho de impacto.
Finalmente, conecte o dispositivo de controle que envia os sinais ao cabeçalho de impacto para controlá-lo, e insira menos 3 volts e mais 10 volts como sinais de controle no cabeçalho de impacto. Comece instalando um programa de controle de palco no PC de controle para controlar o estágio X e o estágio Z. Instale o software do driver DAQ para detectar o dispositivo de controle no PC de controle que controla o cabeçalho de impacto e instalar um programa operacional para controlar o dispositivo de controle.
Em seguida, para conduzir o experimento de padronização, fixar o filme de polímero no suporte do filme, e ajustar a posição do filme polímero usando movimentos um e dois, para corrigir o filme fixamente. Depois de fixar o filme de polímero, ajuste a temperatura da placa de calor para aquecer o filme acima da temperatura de transição de vidro. Em seguida, ajuste a posição inicial do cabeçalho de impacto controlando as etapas X e Z usando o programa de controle de palco.
Use o programa operacional para gerar um sinal de controle de 5v a partir do dispositivo de controle. Uma vez que o amplificador OP ampear o sinal de controle de 5v para maior que 10v, ligue o cabeçalho de impacto e grave os padrões na película do polímero. Em seguida, gere um sinal de controle de 0v a partir do dispositivo de controle usando o programa operacional.
Uma vez que o amplificador OP ampear o sinal de controle 0v para menos 3v, desligue o cabeçalho de impacto. Mova o estágio X para a posição para gravar o próximo padrão. Abaixe o estágio Z de dez mícrons da posição inicial egrave padrões três vezes na película do polímero, contando o número de movimentos de estágio Z.
Quando o número de movimentos de estágio Z exceder três, mova o estágio X para a posição inicial, e eleve o cabeçalho de impacto máximamente movendo o estágio Z. Finalmente, retire a película do polímero do suporte do filme e meça a largura e a profundidade de cada padrão de ponto usando um microscópio confocal no modo de varredura a laser. Neste estudo, foi criado um padrão de ponto nos três filmes de polímeros, e um microscópio confocal foi usado para observar o padrão.
Nove pontos foram utilizados no padrão de pontos, e o tamanho do padrão aumentou da amostra um para a amostra três porque a altura do estágio Z diminuiu em dez mícrons. Além disso, este protocolo foi capaz de medir a largura do padrão e a profundidade de cada padrão de ponto, e o padrão era claramente observável através da imagem 2D de um ponto. Os erros nos padrões de ponto para os três tipos de filmes são menores, indicando que o processo de relevo quente tipo impressão de impacto é adequado para gravar micro-padrões em filmes de polímeros em tempo real.
Este método é o primeiro dos métodos propostos, por isso será uma ajuda para os iniciantes entenderem o desenho de perspicácia, preparação de amostras e procedimento de processo por visualização. Nesta etapa, se o filme for aquecido em repouso na temperatura de transição de vidro, o padrão não gravará lá, devido à restauração do filme. A documentação da temperatura de padronização é de 350 graus celsius e nosso processo pode se ajustar à padronização da linha.
Essas vantagens podem ser utilizadas no semicondutor, utilizando altas temperaturas e canais ultrafinas. Nossa tecnologia pode fazer um padrão usando sistemas de contorno. Este protocolo ajuda a abrir caminho para pesquisas que podem fazer padrões de microescamia a baixo custo, sem processo químico.
Não há risco de lágrimas químicas, porém durante o experimento o usuário tem que usar equipamentos de proteção para evitar queimaduras, já que a placa de calor é aquecida a altas temperaturas.
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A tecnologia de relevo quente do tipo impressão por impacto permite a gravação em tempo real de padrões de pontos em filmes de polímero flexíveis. Este método permite larguras e profundidades variáveis de padrões, tornando-o uma alternativa econômica às técnicas tradicionais de relevo quente.