Picometer-Precision Rastreamento de posição atômica através de microscopia eletrônica

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3 de julho de 2021

10.3791/62164-v

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Este trabalho apresenta um fluxo de trabalho para rastreamento de posição atômica em imagens de microscopia eletrônica de transmissão de resolução atômica. Este fluxo de trabalho é realizado usando um aplicativo Matlab de código aberto (EASY-STEM).

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Scanning Transmission Electron Microscopy

Chapters in this video

0:00

Introduction

1:23

Acquiring High-Quality Annular Dark Field (ADF)/ Annular Bright Field (ABF) STEM Images

9:17

Physical Information Extraction

12:22

Representative Results

14:41

Conclusion

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