XPS Surface Analysis of Materials

X-ray photoelectron spectroscopy, or XPS, is a surface analysis method for studying materials. It measures elemental composition, empirical formula, chemical state, and electronic state of the elements in a sample. Because the signal comes from the top few nanometers, XPS is especially useful for examining surfaces.

Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, или XPS, — это неразрушающий метод, который может быть использован для измерения химического состава поверхности материала. В XPS рентгеновский луч известной энергии ударяется об атом. Электрон оболочки ядра поглощает рентгеновский фотон, набирая достаточно энергии, чтобы покинуть его орбиту.

И...