Количественная оценка рентгеновской флуоресценции данных с использованием карты

Summary

Здесь мы демонстрируют использование рентгеновской флуоресценции установку программного обеспечения, в карты, созданные Аргоннской национальной лаборатории для количественной оценки данных микроскопии флуоресцирования. Количественные данные, которые приводит полезно для понимания Элементаль распределения и стехиометрические коэффициенты в образец интерес.

Abstract

Количественная оценка рентгеновской микроскопии флуоресцирования (XRF) карты путем установки сырой спектры известный стандарт имеет решающее значение для оценки химического состава и элементарного распределения в рамках материала. На базе синхротронного РФА стал неотъемлемая характеристика техники для различных тем исследований, особенно в связи с его non разрушительный характер и его высокая чувствительность. Сегодня synchrotrons можно приобрести флуоресценции данных пространственного разрешения значительно ниже мкм, позволяя для оценки композиционного вариации на наноуровне. Благодаря надлежащей количественной оценки то можно получить углубленные, с высоким разрешением понимание элементарного сегрегации, нейтро отношения и кластеризации поведение.

Эта статья объясняет, как использовать установку программного обеспечения, разработанного Аргоннской национальной лаборатории для количественной оценки полный 2-D РФА карты карты. Мы используем как пример результатов от Cu (In, Ga) Se₂ солнечных батарей, принятым на расширенный источник Фотон излучение 2-ID-D в Аргоннской национальной лаборатории. Мы показываем стандартной процедурой для установки необработанных данных, демонстрируют, как оценить качество fit и представить типичные мероприятия, сгенерированный программой. Кроме того мы обсуждаем в этой рукописи определенные ограничения программного обеспечения и предложение предложения для дальнейшего исправления данных будет численно точной и представитель пространственно решена, Элементаль концентрации.

Introduction

На базе синхротронного РФА был использован в нескольких дисциплинах на протяжении многих десятилетий. Например он был использован в биологии исследований например, проводимую Гераки et al., в котором они количественно следовые концентрации металлов в раковых и незлокачественные груди ткани ¹. В более общем плане количественных РФА был применен к широкий спектр биологических исследований касается концентрации металлов в клетках и тканях, как описано в Paunesku et al. ². Аналогичным образом, морской простейших были изучены для прослеживающие элементы ^3,....

Protocol

Примечание: Перед началом установки, важно знать немного вещей о измерений: количество элементов детектора - различные излучение используют различные датчики, которые иногда разбиваются на более мелкие разделы, из которых являются графов чтение и компиляции; падающей энергии используется; и стандарт. Эта информация будет применяться во всех подразделениях различных аспектов процедуры.

1. Настройка программы

1. Скачать карты программы и IDL
   Примечание: Ссылки для загрузки карт и IDL можно найти на http://www.stefan.vogt.net/downloads.html и http://www.harrisgeospatial.com/ соответственно. Вместе файлы программы мо....

Results

Пример правильной установки результатов можно увидеть на следующих рисунках. Во-первых, на рисунке 1 показано прямое сравнение между бедными подходят и подходящими для составной спектра. Плохо сочетаться может быть устранен путем обеспечения того, что элементы не хватает, например медь, которая имеет четкий пик в Рисунок 1(слева), но не включается в fit и корректировки ветвления соотношения линии L и K для повышения точности.

Discussion

Цифры показывают важность установку данных с помощью этой процедуры. Цифры 1 (справа) и 2 (внизу) показать представителя результат, который должен возникнуть от правильного монтажа. Если существует недостаточно подходят, неотъемлемой спектра изображение будет выглядеть заметно покинуть и полученные количественные данные будут иметь ошибки в нем, хотя это будет трудно обнаружить в большинстве случаев. Для некоторых образцов типов, для которых стандарт не является представителем элементов в образце, особен.......