Выбор материалов
В качестве керамического наполнителя использовался нанопорошок α-Alumina. Согласно спецификации производителя, размер зерна порошка составляет примерно 40 nm (определено по уширению рентгеновских линий), средний размер частиц (APS) составляет 150 nm (определено по удельной поверхности BET и СЭМ), а многоточечная удельная поверхность по методу BET составляет приблизительно 10 m2/g. На основании предыдущих исследований дисперсии частиц в наполненных фотополимерных и эпоксидных системах32 было установлено, что очень низкое содержание оксида алюминия (например, 5 vol%) приводит к слабому фотолюминесцентному отклику и плохой дисперсии частиц, что делает такие составы непригодными для оптомеханического измерения напряжений, в то время как более высокое содержание (например, 20 vol%) вызывало значительное увеличение вязкости, что затрудняло инжекцию и равномерное перемешивание смеси, несмотря на получение более сильного сигнала. Таким образом, концентрация оксида алюминия 15 vol% была выбрана как компромисс между технологичностью изготовления, чувствительностью датчика и качеством дисперсии.
Экспериментальная установка
Установка портативной системы пьезоспектроскопии (PPS)
Для экспериментов по ФЛ использовали ранее разработанную систему портативной пьезоспектроскопии (PPS), состоящую из рамановского зонда InPhotonics Inc. RPB — компактного двухнаправленного волоконно-оптического зонда с дихроичным зеркалом и специальным объективом с числовой апертурой f/333,34. Общая система PPS включает в себя аппаратные и программные компоненты. Аппаратная часть состоит из спектрографа, прибора с зарядовой связью (CCD), лазера, волоконной оптики и компьютера33,34. В качестве программного обеспечения используются две основные программы: MATLAB и LightField. Программы на базе MATLAB в основном применяются для последующей обработки данных, а LightField — для сбора данных с CCD. На рисунке 1 показана полная экспериментальная установка для обоих условий отверждения, а также лежащий в ее основе принцип измерения, иллюстрирующий конфигурации с контактом (в форме) и без контейнера (акустическая левитация) (Рисунок 1A и Рисунок 1B), сжимающее напряжение, возникающее в частицах оксида алюминия при затвердевании смолы (Рисунок 1C), и соответствующий сдвиг пика фотолюминесценции, используемый в качестве индикатора этого напряжения (Рисунок 1D). В установке без контейнера крепление формы было расположено в той же точке, что и центр поля акустической левитации, для обеспечения единообразной геометрии обеих конфигураций. Блок УФ-светодиодов (длина волны 405 nm, номинальная мощность 10 W, корпус со степенью защиты IP66) был размещен на расстоянии 6 cm от образца, а волоконно-оптический зонд был направлен на образец для непрерывного сбора сигнала фотолюминесценции в процессе отверждения. УФ-светодиод был расположен таким образом, чтобы избежать прямого освещения волоконно-оптического зонда во избежание повреждения волокна. Пики фотолюминесценции оксида алюминия регистрировались во времени в процессе УФ-отверждения, и за сдвигом пиков наблюдали, как показано на рисунке 1D. Во время фотополимеризации смола затвердевает вокруг внедренных частиц оксида алюминия и подвергается полимеризационной усадке, создавая локальное сжимающее напряжение, которое передается частицам оксида алюминия (Рисунок 1C), что вызывает сдвиг пика фотолюминесценции из его первоначального безнапряженного положения. Затем положения пиков извлекались из LightField, и сдвиг пика рассчитывался в MATLAB путем сравнения положения каждого пика с начальным положением пика до УФ-облучения.
Установка для синхротронной рентгеновской дифракции
Измерения методом синхротронной рентгеновской дифракции (XRD) проводились in situ в процессе отверждения на канале 6-ID-D источника Advanced Photon Source в Аргоннской национальной лаборатории, США. На рисунке 2 представлена схема установки синхротронной XRD как для условий с контактом, так и для бесконтактных условий, а также принцип измерения, демонстрирующий, как вызванное отверждением напряжение изменяет межплоскостное расстояние решетки оксида алюминия, что приводит к заметному смещению пика (рисунок 2A–C).

Рисунок 2. Установка для синхротронной рентгеновской дифракции и принцип измерения при отверждении в контакте с формой и безконтейнерном отверждении. (A) Условие с контактом: смола помещена в форму во время УФ-отверждения и сбора данных XRD. (B) Безконтейнерное условие: капля смолы подвешена в поле акустической левитации во время УФ-отверждения и сбора данных XRD. (C) Напряжение, возникающее при отверждении, изменяет межплоскостное расстояние решетки оксида алюминия, вызывая сдвиг пика XRD, который используется для расчета деформации при затвердевании. Пожалуйста, нажмите здесь, чтобы просмотреть увеличенную версию этого рисунка.
Образец облучали параллельным пучком фотонов с энергией 90.5 keV (что соответствует длине волны λ = 0.137 ˚A) с приблизительными размерами 0.5 × 0.5 mm, расположенным примерно в центре образца, как показано на Рисунке 2A,B. Расстояние от образца до детектора было установлено примерно на уровне 1.5 m для регистрации интересующих пиков оксида алюминия. Кольцевые дифракционные картины регистрировали с помощью плоскопанельного детектора Varex XRD 4343RF (матрица 2880 × 2880 пикселей, шаг пикселя 150 µm), обеспечивающего высокоскоростную визуализацию в реальном времени с частотой до 15 fps. Сбор данных проводили в течение общего времени экспозиции 600 s для каждого эксперимента.
Как и в случае с установкой PPS, измерения проводились как в контактном, так и в бесконтактном режимах (Рисунок 2A,BУФ-светодиод был помещен на расстоянии 6 см от образца, в соответствии с конфигурацией PPS, а зажим для формы и левитирующий образец были расположены в одном и том же месте измерения для обеспечения геометрического соответствия. Вся установка была смонтирована на линейном столе, что позволяло при необходимости совмещать либо контактный образец, либо левитирующую сферу с осью пучка. Затем в процессе УФ-отверждения осуществлялся мониторинг смещения пиков XRD во времени. (Рисунок 2C), поскольку напряжение, возникающее при отверждении и передающееся на внедренные частицы оксида алюминия, вызывает измеримое изменение межплоскостного расстояния в кристаллической решетке.
Подготовка образцов
Порошок оксида алюминия смешивали с жидкой смолой в стакане/смесительном контейнере в объемной концентрации 15 vol% и перемешивали стеклянной палочкой для обеспечения гомогенного диспергирования частиц оксида алюминия, как показано на рисунке 3A.

Рисунок 3. Схема подготовки образца, дозирования и измерений in situ. (A) Порошок оксида алюминия и жидкая смола смешиваются для приготовления гомогенной суспензии нанокомпозита. (B) Приготовленная суспензия дозируется либо в поле акустической левитации для формирования бесконтейнерной сферы, либо в силиконовую форму для условий с контактом. (C) Измерения PL и синхротронного XRD проводятся как для бесконтейнерного, так и для контактного условий отверждения для сравнения спектральных изменений, отражающих остаточное напряжение и структурную эволюцию. Пожалуйста, нажмите здесь, чтобы просмотреть увеличенную версию этого рисунка.
Для поддержания равномерной дисперсии частиц оксида алюминия суспензия нанокомпозита перемешивалась на магнитной мешалке на протяжении всего эксперимента. После диспергирования суспензию помещали в дозирующий шприц для последующего подачи образца, как показано на Рисунке 3A. Перед каждым экспериментом подготовленную суспензию загружали в шприц для дозирования либо в поле акустической левитации, либо в силиконовую форму.
Дозирование образца и контролируемая левитация
Для условий акустической левитации (безконтейнерного метода) область акустического узла была определена до дозирования. Заполненный шприц удерживали под углом примерно 45° относительно плоскости основания (Рисунок 3B), и суспензию медленно вводили в левитатор до достижения стабильной эллиптической формы капли в акустическом поле; начальный объем введенной капли составлял примерно 5–7 µL и корректировался по мере необходимости в зависимости от условий акустического поля, требуемых для поддержания стабильности капли. После успешного введения амплитуда в программном обеспечении левитатора была отрегулирована для стабилизации капли.
В зависимости от метода измерения использовались две различные конфигурации одноосевого и двухосевого акустических левитаторов одного и того же производителя. Обе конфигурации при активации работали на автоматически откалиброванной резонансной частоте примерно 22 400–22 450 Hz; рабочая частота определялась автоматической калибровкой устройства, а не устанавливалась вручную. Для экспериментов по синхротронному XRD в Национальной лаборатории Аргонна (ANL) использовалась одноосевая конфигурация, состоящая из одного ультразвукового преобразователя, расположенного над одним отражателем, при этом расстояние между преобразователем и отражателем было зафиксировано в соответствии со стандартной заводской настройкой левитатора. Для экспериментов PPS использовалась двухосевая конфигурация, состоящая из двух противоположно расположенных ультразвуковых преобразователей (верхнего и нижнего), при этом расстояние между преобразователями также было фиксированным согласно стандартной настройке производителя.
В обеих конфигурациях положение акустического узла и положение образца в поле оставались неизменными для повторяющихся образцов в рамках одной сессии: позиция первого помещенного образца задавалась с помощью лазерного направляющего устройства, а последующие образцы помещались в ту же контрольную точку, чтобы не приходилось заново настраивать фокусировку луча и датчика для каждого нового образца.
Для одноосевой системы XRD амплитуду увеличивали до тех пор, пока акустический тон, излучаемый левитатором, не стал слышимым, после чего суспензию вводили с помощью шприца в узел. Затем амплитуду отрегулировали для обеспечения стабильной левитации.
Для двух осевой системы PPS амплитуды верхнего и нижнего преобразователей регулировались независимо с помощью программного обеспечения до тех пор, пока частица не оказывалась стабильно захваченным, и в дальнейшем в течение данного цикла отверждения повторно не корректировались.
В обеих конфигурациях условие левитации считалось приемлемым, если движение микросферы вокруг узла не приводило к выходу образца из фокуса измерительного луча: для XRD требовалось, чтобы микросфера оставалась выровненной в пределах пятна рентгеновского луча размером ~500 µm в месте измерения (см. Synchrotron X-ray Diffraction Setup); для PPS требовалось, чтобы микросфера оставалась в фокальном пятне волоконно-оптического зонда, что подтверждалось непрерывным обнаружением четкого, хорошо выраженного пика фотолюминесценции оксида алюминия в программном обеспечении для сбора данных в реальном времени.
Для условий с контактом (силиконовая форма) суспензия вводилась непосредственно в форму с помощью заполненного шприца, что также показано на рисунке 3B. Размеры полости формы составляли 3 × 3 × 2 мм, и суспензия вводилась до полного заполнения объема формы (~10.5 μL). Излишки суспензии удаляли с поверхности формы, после чего форму накрывали стеклянным cover-стеклом. Затем для условий без контейнера и с контактом проводили эксперименты ПЛ и XRD, как показано на рисунке 3C. Каждый эксперимент повторяли для обеспечения сопоставимости и воспроизводимости результатов.
In situ сбор данных
Фотолюминесцентная спектроскопия
После помещения образца в поле акустической левитации или в форму лазер был включен; на протяжении всех операций с лазером использовались защитные очки. Фокус был оптимизирован с помощью программного обеспечения LightField для выявления самого сильного сигнала, что подтверждалось визуально по самому маленькому и яркому лазерному пятну на образце. Сбор пиков фотолюминесценции оксида алюминия начался до воздействия УФ-излучения, при этом пики регистрировались каждые 0.5 s. После 5 s предварительного сбора базовой линии был активирован УФ-светодиод, и сбор данных продолжался в течение 5 min для обеспечения полного отверждения образца. После отверждения УФ-светодиод был выключен. В случае бесконтактного метода отвержденный шарик переносили в контейнер; при контактном методе отвержденный образец извлекали из силиконовой формы с помощью пинцета. На протяжении всего процесса избегали прямого контакта с образцами для предотвращения загрязнения и раздражения кожи.
Синхротронная рентгеновская дифракция
После размещения образца рентгеновский луч был совмещен с центром образца: центром левитирующей сферы для бесконтактного условия и центром образца внутри формы для условия с контактом. Перед активацией рентгеновского луча экспериментальный отсек был закрыт. Рентгеновский луч и УФ-светодиод были включены одновременно, и дифракционные данные собирались на протяжении всего процесса УФ-отверждения. Сбор данных продолжался до полного отверждения образца; в данном исследовании данные собирались в течение 10 min, чтобы охватить весь интересующий диапазон. После отверждения УФ-светодиод и рентгеновский луч были выключены, и образцы были собраны согласно описанию для установки спектроскопии, при этом избегали прямого контакта во избежание загрязнения и раздражения кожи.
Анализ данных
Метод аппроксимации пиков фотолюминесценции
Необработанные спектры фотолюминесценции, содержащие пики R1 и R2 оксида алюминия (Рисунок 4A), были извлечены из полного набора данных отверждения и импортированы в MATLAB для последующей обработки.

Рисунок 4. Алгоритм анализа данных для измерений PL и синхротронного XRD. (A) Спектры PL обрабатываются путем удаления фона и аппроксимации пиков R1 и R2 оксида алюминия функцией псевдо-Фойгта для определения положения пиков в процессе отверждения. (B) Дифракционные кольца синхротронного XRD преобразуются и интегрируются в одномерный дифракционный профиль, после чего проводится аппроксимация пика (116) оксида алюминия функцией псевдо-Фойгта для определения положения пика и расчета деформации, вызванной отверждением. Пожалуйста, нажмите здесь, чтобы просмотреть увеличенную версию этого рисунка.
Из каждого спектра был удален фоновый шум, а наклон базовой линии был скорректирован для ее приблизительного совмещения с осью x. Для точного определения пиков R1 и R2 в спектрах фотолюминесценции оксида алюминия применялась аппроксимация функцией псевдо-Фойгта35. Пики аппроксимировались функцией псевдо-Фойгта с использованием алгоритма ограниченной нелинейной оптимизации (fmincon), где в качестве четырех свободных параметров для каждого пика (R1 и R2) выступали площадь, центральное положение, FWHM и коэффициент формы (0 = чистый Гаусс, 1 = чистый Лоренц). Перед аппроксимацией из каждого спектра вычитался линейный фон, рассчитанный по исходной интенсивности на 14300 и 14500 cm⁻1. Начальные значения параметров оценивались непосредственно по каждому сглаженному спектру с исправленной базовой линией, а границы аппроксимации задавались в виде процентного диапазона вокруг каждого начального значения (площадь: 50–150%; FWHM: 60–180%). Качество аппроксимации оценивали по нормированной среднеквадратичной ошибке (NRMSE). Положения аппроксимированных пиков извлекались для каждой временной точки на протяжении всего процесса отверждения, а сдвиги пиков рассчитывались путем сравнения каждого полученного положения с начальным значением до УФ-облучения.
Метод аппроксимации пиков XRD
Двумерные дифракционные изображения были импортированы в программное обеспечение для обработки XRD или в MATLAB для анализа. Данные XRD могут быть проанализированы для получения информации о деформации материала36,37,38. Были идентифицированы дифракционные кольца от частиц оксида алюминия (Рисунок 4B), и для отслеживания изменений межплоскостного расстояния было выбрано кольцо, соответствующее пику (116) оксида алюминия, ввиду его четкости. Идентификация колец непосредственно на 2D-дифракционном изображении на данном этапе служила качественной проверкой качества данных перед интегрированием, подтверждая полноту и непрерывность колец (что указывает на равномерное освещение образца и отсутствие обрезания пучка), правильность юстировки детектора и положения центра, а также отсутствие паразитного рассеяния или ложных признаков, которые могли бы исказить интегрированный профиль. После подтверждения качества кольца выбранное кольцо было преобразовано в азимутально трансформированное изображение и интегрировано по всему азимутальному диапазону 360°, чтобы получить одномерный дифракционный профиль, который затем использовался для количественной аппроксимации положения пика с целью извлечения межплоскостного расстояния d и расчета деформации, вызванной отверждением. Пик (116) оксида алюминия в интегрированном профиле был аппроксимирован функцией псевдо-Фойгта для определения положения пика, который затем извлекался для каждого дифракционного кадра в процессе отверждения. Пики аппроксимировались функцией псевдо-Фойгта с использованием алгоритма нелинейного метода наименьших квадратов (lsqnonlin), где параметрами аппроксимации выступали интенсивность, положение центра, ширина (FWHM) и форма (отношение Гаусса к Лоренцу). Перед аппроксимацией из каждого спектра вычитался линейный фон. Аппроксимация проводилась с ограничениями по границам при допуске сходимости 10⁻4. Изменение межплоскостного расстояния рассчитывалось по аппроксимированным положениям пиков с использованием закона Брэгга:

где d — межплоскостное расстояние, n — порядок дифракции, λ — длина волны рентгеновского излучения, а θ — угол Брэгга. Для прямого сравнения с эталонными дифрактограммами оксида алюминия, которые традиционно индексируются с использованием излучения Cu Ka, измеренные значения d-расстояний дополнительно использовались для расчета эквивалентного значения 2θ, соответствующего излучению Cu Ka с λ = 1.54056 Å, согласно закону Брэгга. Для оси дифракционного угла используется эта традиционная эквивалентная шкала 2θ, а не нативная шкала 2θ синхротронного излучения (λ = 0.137 Å). Затем деформация, вызванная отверждением, рассчитывалась путем сравнения межплоскостного расстояния в каждом временном интервале с начальным значением до УФ-облучения:

где dt = n s — это межплоскостное расстояние в каждый момент времени в процессе отверждения, а d0 — начальное межплоскостное расстояние до воздействия УФ-излучения.