Выбор материалов
В качестве керамического наполнителя использовался нанопорошок α-Alumina. Согласно спецификации производителя, порошок имеет размер зерна примерно 40 nm (определенный по уширению рентгеновских линий), средний размер частиц (APS) 150 nm (определенный по удельной поверхности БЭТ и СЭМ) и многоточечную удельную поверхность БЭТ примерно 10 m2/g. На основании предыдущих исследований дисперсии частиц в наполненных фотополимерных и эпоксидных системах32 было установлено, что очень низкое содержание оксида алюминия (например, 5 vol%) приводит к слабому фотолюминесцентному отклику и плохой дисперсии частиц, что делает такие составы непригодными для оптомеханического измерения напряжений, в то время как более высокое содержание (например, 20 vol%) вызывало значительное увеличение вязкости, что затрудняло впрыскивание и равномерное перемешивание смеси, несмотря на получение более сильного сигнала. Таким образом, концентрация оксида алюминия 15 vol% была выбрана как компромисс между технологичностью изготовления, чувствительностью датчика и качеством дисперсии.
Экспериментальная установка
Установка портативной системы пьезоспектроскопии (PPS)
Для экспериментов по ФЛ использовалась ранее разработанная система портативной пьезоспектроскопии (PPS), состоящая из Рамановского зонда RPB компании InPhotonics Inc. — компактного двухнаправленного волоконно-оптического зонда с дихроичным зеркалом и специальной линзой объектива f/333,34. Общая система PPS включает аппаратные и программные компоненты. Аппаратная часть состоит из спектрографа, прибора с зарядовой связкой (ПЗС), лазера, волоконной оптики и компьютера33,34. В качестве программного обеспечения используются две основные программы: MATLAB и LightField. Программы на базе MATLAB применяются преимущественно для постобработки данных, а LightField используется для сбора данных с ПЗС. На Рисунке 1 представлена полная экспериментальная установка для обоих условий отверждения, а также лежащий в ее основе принцип измерения, иллюстрирующий конфигурации с контактом (в форме) и без контейнера (акустическая левитация) (Рисунок 1A и Рисунок 1B), сжимающее напряжение, возникающее в частицах оксида алюминия при затвердевании смолы (Рисунок 1C), и соответствующий сдвиг пика фотолюминесценции, используемый в качестве индикатора этого напряжения (Рисунок 1D). В установке с контейнером зажим формы был расположен в том же месте, что и центр поля акустической левитации, для обеспечения идентичной геометрии в обеих конфигурациях. Блок УФ-светодиодов (длина волны 405 nm, номинальная мощность 10 W, корпус класса защиты IP66) был размещен на расстоянии 6 cm от образца, а волоконно-оптический зонд был направлен на образец для непрерывного сбора сигнала фотолюминесценции в процессе отверждения. УФ-светодиод был расположен таким образом, чтобы избежать прямого облучения волоконно-оптического зонда во избежание повреждения волокна. Пики фотолюминесценции оксида алюминия регистрировались во времени в процессе УФ-отверждения, и сдвиги пиков отслеживались, как показано на Рисунке 1D. В ходе фотополимеризации смола затвердевает вокруг внедренных частиц оксида алюминия и подвергается полимеризационной усадке, создавая локальное сжимающее напряжение, которое передается частицам оксида алюминия (Рисунок 1C), что вызывает сдвиг пика фотолюминесценции относительно его первоначального положения в безнапряженном состоянии. Затем положения пиков извлекались из LightField, и сдвиг пика рассчитывался в MATLAB путем сравнения каждого положения пика с начальным положением пика до УФ-облучения.
Установка для синхротронной рентгеновской дифракции
Измерения синхротронной рентгеновской дифракции (XRD) проводились in situ в процессе отверждения на линии 6-ID-D источника Advanced Photon Source в Аргоннской национальной лаборатории, США. На рисунке 2 представлена установка для синхротронной XRD как для условий с контактом, так и для бесконтейнерных условий, а также принцип измерения, демонстрирующий, как напряжение, вызванное отверждением, изменяет межплоскостное расстояние решетки оксида алюминия, что приводит к обнаруживаемому сдвигу пика (рисунок 2A–C).

Рисунок 2. Схема установки синхротронной рентгеновской дифракции и принцип измерения для отверждения с контактом и без контейнера. (A) Условие с контактом: смола помещена в форму во время УФ-отверждения и сбора данных XRD. (B) Условие без контейнера: капля смолы подвешена в поле акустической левитации во время УФ-отверждения и сбора данных XRD. (C) Напряжение, вызванное отверждением, изменяет межплоскостные расстояния решетки оксида алюминия, вызывая смещение пика XRD, которое используется для расчета деформации при затвердевании. Пожалуйста, нажмите здесь, чтобы просмотреть увеличенную версию этого рисунка.
Образец облучали параллельным пучком фотонов с энергией 90.5 keV (что соответствует длине волны λ = 0.137 ˚A) с примерными размерами 0,5 × 0,5 mm, расположенным приблизительно в центре образца, как показано на Рисунке 2A,B. Расстояние от образца до детектора было установлено примерно на уровне 1,5 m для регистрации интересующих пиков оксида алюминия. Кольцевые дифракционные картины регистрировали на плоскопанельном детекторе Varex XRD 4343RF (матрица 2880 × 2880 пикселей, шаг пикселя 150 µm), способном осуществлять высокоскоростную визуализацию в реальном времени с частотой до 15 fps. Данные собирали при общем времени экспозиции 600 s для каждого эксперимента.
Как и в случае с установкой PPS, измерения проводились как в условиях контакта, так и в бесконтактных условиях (Рисунок 2A,B). УФ-светодиод был размещен на расстоянии 6 cm от образца, что соответствует конфигурации PPS, а зажим для формы и левитирующий образец располагались в одной и той же точке измерения для обеспечения геометрического соответствия. Вся сборка установки была установлена на линейный стол, что позволяло при необходимости совмещать либо контактный образец, либо левитирующий шарик с осью пучка. Затем в процессе УФ-отверждения отслеживались сдвиги пиков XRD с течением времени (Рисунок 2C), так как вызванное отверждением напряжение, передаваемое встроенным частицам оксида алюминия, вызывает измеримое изменение межплоскостного расстояния в кристаллической решетке.
Подготовка образцов
Порошок оксида алюминия смешивали в объеме 15 vol% с жидкой смолой в стакане/смесительном контейнере и перемешивали стеклянной палочкой для обеспечения гомогенного распределения частиц оксида алюминия, как показано на Рисунке 3A.

Рисунок 3. Процесс подготовки образца, дозирования и измерений in situ. (A) Порошок оксида алюминия и жидкая смола смешивают для приготовления гомогенной суспензии нанокомпозита. (B) Приготовленную суспензию дозируют либо в поле акустической левитации для формирования безконтейнерной капли, либо в силиконовую форму для условий с контактом. (C) Измерения PL и синхротронной XRD проводят для обоих условий отверждения (безконтейнерного и контактного) для сравнения спектральных изменений, отражающих остаточные напряжения и структурную эволюцию. Пожалуйста, нажмите здесь, чтобы просмотреть увеличенную версию этого рисунка.
Для поддержания однородности дисперсии частиц оксида алюминия суспензия нанокомпозита перемешивалась на магнитной мешалке на протяжении всего эксперимента. После диспергирования суспензию помещали в дозирующий шприц для последующего нанесения образца, как показано на Рисунке 3A. Перед каждым экспериментом подготовленную суспензию загружали в шприц для дозирования либо в поле акустической левитации, либо в силиконовую форму.
Дозирование образца и контролируемая левитация
Для условий акустической левитации (безконтейнерного метода) область акустического узла была определена до подачи материала. Заполненный шприц удерживали под углом примерно 45° относительно плоскости основания (Рисунок 3B), и суспензию медленно вводили в левитатор до достижения стабильной эллиптической формы капли в акустическом поле; начальный объем введенной капли составлял примерно 5–7 µL и корректировался по мере необходимости в зависимости от условий акустического поля, требуемых для поддержания стабильности капли. После успешного введения амплитуда в программном обеспечении для левитации была отрегулирована для стабилизации капли.
В зависимости от модальности измерений использовались две разные конфигурации акустического левитатора от одного и того же производителя: одноосевая и двухосевая. Обе конфигурации при активации работали на автоматически откалиброванной резонансной частоте примерно 22 400–22 450 Hz; рабочая частота фиксировалась автоматической калибровкой устройства, а не устанавливалась вручную. Для экспериментов по синхротронному XRD в Национальной лаборатории Аргонна (ANL) использовалась одноосевая конфигурация, состоящая из одного ультразвукового преобразователя, расположенного над одним отражателем, при этом расстояние между преобразователем и отражателем было зафиксировано в соответствии со стандартной заводской настройкой левитатора. Для экспериментов PPS использовалась двухосевая конфигурация, состоящая из двух противоположно расположенных ультразвуковых преобразователей (верхнего и нижнего), при этом расстояние между преобразователями также было зафиксировано согласно стандартной настройке производителя.
В обеих конфигурациях положение акустического узла и позиция образца в поле оставались неизменными для всех повторностей в рамках одной сессии: положение первого дозированного образца устанавливалось с помощью лазерного направляющего устройства, а последующие образцы дозировались в той же опорной точке, чтобы не приходилось заново настраивать фокус луча и зонда для каждого нового образца.
Для одноосевой системы XRD амплитуду увеличивали до тех пор, пока не стал слышен акустический тон, излучаемый левитатором, после чего суспензию вводили в узел с помощью шприца. Затем амплитуду отрегулировали для обеспечения стабильной левитации.
Для двух осевой системы PPS амплитуды верхнего и нижнего преобразователей настраивались независимо с помощью программного обеспечения до тех пор, пока частица не оказывалась стабильно захваченной; в дальнейшем, на протяжении всего цикла отверждения, повторная настройка не проводилась.
В обеих конфигурациях условие левитации считалось приемлемым, если движение частицы вокруг узла не приводило к выходу образца из фокуса измерительного луча: для XRD требовалось, чтобы частица оставалась выровненной в пределах пятна рентгеновского луча размером ~500 µm в точке измерения (см. Установка для синхротронной рентгеновской дифракции); для PPS требовалось, чтобы частица оставалась в фокальном пятне волоконно-оптического зонда, что подтверждалось непрерывным детектированием четкого, хорошо выраженного пика фотолюминесценции оксида алюминия в программном обеспечении для сбора данных в реальном времени.
Для условий с контактом (силиконовой формой) суспензия вводилась непосредственно в форму с помощью заполненного шприца, что также показано на рисунке 3B. Размер полости формы составлял 3 × 3 × 2 mm; суспензия вводилась до полного заполнения объема формы (~10.5 μL). Излишки суспензии удаляли с поверхности формы, после чего форму накрывали стеклянной крышкой. Затем для условий без контейнера и с контактом проводили эксперименты по PL и XRD, как показано на рисунке 3C. Каждый эксперимент повторяли для обеспечения сопоставимости и воспроизводимости результатов.
In situ сбор данных
Фотолюминесцентная спектроскопия
После помещения образца в поле акустической левитации или в форму лазер был включен; на протяжении всех операций с лазером использовались защитные очки. Фокус был оптимизирован с помощью программного обеспечения LightField для поиска наиболее сильного сигнала, что подтверждалось визуально по самому маленькому и яркому лазерному пятну на образце. Сбор пиков фотолюминесценции оксида алюминия начался до УФ-облучения, при этом данные по пикам регистрировались каждые 0.5 s. После 5 s сбора базовой линии до УФ-облучения был активирован УФ-светодиод, и сбор данных продолжался в течение 5 min для обеспечения полного отверждения образца. После отверждения УФ-светодиод был выключен. В случае бесконтактного метода отвержденная гранула была перемещена в контейнер; в случае контактного метода отвержденный образец был извлечен из силиконовой формы с помощью пинцета. На протяжении всего процесса избегали прямого контакта с образцами во избежание загрязнения и раздражения кожи.
Синхротронная рентгеновская дифракция
После размещения образца рентгеновский луч был совмещен с его центром: центром левитирующей сферы для условий без контейнера и центром образца внутри формы для условий с контактом. Перед активацией рентгеновского луча экспериментальный кожух был закрыт. Рентгеновский луч и УФ-светодиод были включены одновременно, и данные дифракции собирались на протяжении всего процесса УФ-отверждения. Сбор данных продолжался до полного отверждения образца; в данном исследовании данные собирались в течение 10 min, чтобы охватить весь интересующий диапазон. После отверждения УФ-светодиод и рентгеновский луч были выключены, и образцы были собраны, как описано для установки спектроскопии, при этом избегали прямого контакта для предотвращения загрязнения и раздражения кожи.
Анализ данных
Метод аппроксимации пиков фотолюминесценции
Необработанные спектры фотолюминесценции, содержащие пики оксида алюминия R1 и R2 (Рисунок 4A), были извлечены из полного набора данных по отверждению и импортированы в MATLAB для последующей обработки.

Рисунок 4. Схема анализа данных для измерений PL и синхротронной XRD. (A) Спектры PL обрабатываются путем удаления фона и аппроксимации пиков R1 и R2 оксида алюминия функцией псевдо-Фойгта для определения положения пиков в процессе отверждения. (B) Дифракционные кольца синхротронной XRD трансформируются и интегрируются в одномерный дифракционный профиль с последующей аппроксимацией пика (116) оксида алюминия функцией псевдо-Фойгта для определения положения пика и расчета деформации, вызванной отверждением. Пожалуйста, нажмите здесь, чтобы просмотреть увеличенную версию этого рисунка.
Из каждого спектра был удален фоновый шум, а наклон базовой линии был скорректирован для приблизительного совмещения с осью x. Для точного определения пиков R1 и R2 к пикам фотолюминесценции оксида алюминия была применена аппроксимация функцией псевдо-Фойгта35. Аппроксимация пиков выполнялась с использованием алгоритма ограниченной нелинейной оптимизации (fmincon) по функции псевдо-Фойгта, где четырьмя свободными параметрами для каждого пика (R1 и R2) являлись площадь, центральное положение, FWHM (полная ширина на уровне половины максимума) и коэффициент формы (0 = чистая Гауссиана, 1 = чистый Лоренциан). Перед аппроксимацией из каждого спектра вычитался линейный фон, построенный по значениям интенсивности при 14300 и 14500 cm⁻1. Начальные значения параметров оценивались непосредственно по каждому сглаженному спектру с исправленной базовой линией, а границы аппроксимации задавались в виде процентного диапазона вокруг каждого начального значения (площадь: 50–150%; FWHM: 60–180%). Качество аппроксимации оценивали с помощью нормированной среднеквадратической ошибки (NRMSE). Положения аппроксимированных пиков извлекали для каждой временной точки в процессе отверждения, а сдвиги пиков рассчитывали путем сравнения каждого полученного положения с начальным значением до УФ-облучения.
Метод аппроксимации пиков XRD
Двумерные дифракционные изображения были импортированы в программное обеспечение для обработки XRD или в MATLAB для анализа. Данные XRD могут быть проанализированы для получения информации о деформации материала36,37,38. Были идентифицированы дифракционные кольца от частиц оксида алюминия (Рисунок 4B), и кольцо, соответствующее пику (116) оксида алюминия, было выбрано из-за его четкости для отслеживания изменений межплоскостного расстояния. Идентификация колец непосредственно на 2D-дифракционном изображении на данном этапе служила качественной проверкой качества данных перед интегрированием, подтверждая полноту и непрерывность колец (что указывает на равномерное освещение образца и отсутствие обрезки пучка), правильную юстировку детектора и положение центра, а также отсутствие паразитного рассеяния или ложных признаков, которые могли бы исказить интегрированный профиль. После подтверждения качества кольца выбранное кольцо было преобразовано в азимутально трансформированное изображение и интегрировано по всему азимутальному диапазону 360° для получения одномерного дифракционного профиля, который затем использовался для количественного подбора положения пика с целью извлечения межплоскостного расстояния d и расчета деформации, вызванной отверждением. Пик (116) оксида алюминия в интегрированном профиле был аппроксимирован функцией псевдо-Фойгта для определения положения пика, а затем извлекался для каждого кадра дифракции в процессе отверждения. Пики аппроксимировались функцией псевдо-Фойгта с использованием алгоритма нелинейных наименьших квадратов (lsqnonlin), где параметрами подбора были интенсивность, положение центра, ширина (FWHM) и форма (соотношение Гаусса и Лоренца). Перед аппроксимацией из каждого спектра вычитался линейный фон. Аппроксимация была ограничена по значениям с допуском сходимости 10⁻4. Изменение межплоскостного расстояния рассчитывалось по аппроксимированным положениям пиков с использованием закона Брэгга:

где d — межплоскостное расстояние, n — порядок дифракции, λ — длина волны рентгеновского излучения, а θ — угол Брэгга. Для прямого сравнения со стандартными эталонными дифрактограммами оксида алюминия, которые традиционно индексируются с использованием излучения Cu Ka, измеренные значения d-расстояний дополнительно использовались для расчета эквивалентного значения 2θ, соответствующего излучению Cu Ka с λ = 1.54056 Å, согласно закону Брэгга. Для оси угла дифракции используется эта стандартная эквивалентная шкала 2θ, а не исходная шкала 2θ синхротронного излучения (λ = 0.137 Å). Затем была рассчитана деформация, вызванная отверждением, путем сравнения межплоскостного расстояния в каждой временной точке с начальным значением до УФ-облучения:

где dt = n s — период решетки в каждый момент времени в процессе отверждения, а d0 — начальный период решетки до УФ-облучения.