Сосредоточены ионного пучка фрезерные и сканирующей электронной микроскопии ткани мозга

30.2K просмотров

Процитировано: 104

08:57 мин

6 июля 2011 г.

10.3791/2588-v

6 июля 2011 г.

30.2K просмотров

Этот протокол описывает, как смола встроенных мозговой ткани могут быть подготовлены и отображается в трех измерениях сосредоточены ионного пучка, сканирующего электронного микроскопа.

Больше видео

Chapters in this video

0:05

Title

1:29

Sample Fixation and Resin Embedding

4:00

Preparing the Sample for the FIB/SEM

5:55

Imaging the FIB/SEM

8:03

Results: FIB/SEM Images of Brain Tissue

8:40

Conclusion

Related Videos