8 декабря 2015 г.
Улучшенная темнопольная микроскопия и гиперспектральная визуализация со спектральным картированием позволяют проводить скрининг, локализацию и идентификацию наноразмерных материалов в гистологических образцах с улучшенной скоростью и точностью по сравнению с традиционными методами. Целью данной работы является предоставление методов визуализации в темном поле и гиперспектрального картирования наночастиц оксидов металлов в гистологических образцах.