Использование жертвенной наночастицами для устранения эффекта дробового шума в контактных отверстий сфабриковано E-лучевую литографию

6.8K просмотров

Процитировано: 1

07:47 мин

12 февраля 2017 г.

10.3791/54551-v

12 февраля 2017 г.

6.8K просмотров

Равномерно наночастицы размером могут удалить колебания размеров контактных отверстий узорчатых в поли (метилметакрилата) (ПММА) фоторезиста пленок электронным пучком (E-луч) литографии. Процесс включает в себя электростатический утекают к центру наночастиц и вкладами в контактные отверстия, а затем фоторезиста оплавления и плазмохимических и мокрого травления шаги.

Больше видео

Chapters in this video

0:05

Title

2:14

Gold Nanoparticle (GNP) Deposition into E-beam-patterned Holes

1:20

Derivatization and Characterization of Silicon Wafer Surfaces

3:46

Pol(methyl methacrylate) (PMMA) Photoresist Reflow and Dry- and Wet-etching

4:50

Results: Reduction of Shot-noise by Deposition and Subsequent Etching of Sacrificial GNPs

6:29

Conclusion

Related Videos