Рекомбинация Динамика в тонкопленочных фотоэлектрических материалов с помощью времяразрешенные СВЧ проводимости

11.3K просмотров

Цитируется: 2

11:30 мин.

6 марта 2017 г.

10.3791/55232-v

6 марта 2017 г.

11.3K просмотров

Здесь представлен метод микроволновой проводимости с временным разрешением для исследования прямой и опосредованной ловушками динамики рекомбинации и определения подвижности носителей тонкопленочных полупроводников.

Больше видео

Chapters in this video

0:05

Title

0:38

Prepare for the Experiment

1:41

Couple the Free-space Laser into a Fiber

2:41

Measure Cavity Loss Factor and Mount the Sample

3:51

Cavity Sensitivity Calibration

5:10

Determine the Optimal Measurement Parameters

7:17

Measure the Time-resolved Microwave Conductivity Traces as a Function of Microwave Probe Frequency

8:01

Intensity Dependent Data Suite

9:00

Results: Time-resolved Microwave Conductivity Characterization of Recombination Dynamics in CH3NH3PbI3

10:29

Conclusion

Related Videos