Анализ одиночных частиц с высокой разрешающей способностью при электронно-микроскопической микроскопии Изображения с использованием SPHIRE

51.3K просмотров

Процитировано: 218

13:28 мин

16 мая 2017 г.

10.3791/55448-v

16 мая 2017 г.

51.3K просмотров

В настоящем документе представлен протокол обработки крио-ЭМ изображений с использованием программного комплекса SPHIRE. Настоящий протокол может быть применен практически для всех одномерных ЭМ-проектов, нацеленных на решение задач с атомным разрешением.

Больше видео

Single Particle Analysis

Chapters in this video

0:05

Title

12:19

Conclusion

10:46

Results: High-resolution 3D Modeling of TcdA1

1:16

Micrograph Alignment and Particle Picking

3:48

2D Classification and Initial 3D Modeling

5:51

3D Model-refinement

7:53

3D Sorting and Local Resolution Estimation

Related Videos