May 29th, 2018
Здесь мы представляем протоколы анализов дифференциально обнаружение времени решены инфракрасный колебательной спектроскопии и электронной дифракции позволяющие наблюдений деформаций местных структур вокруг photoexcited молекул в столбчатых жидкий кристалл, давая атомной перспективы на взаимосвязи между структурой и динамикой этого фотоактивного материала.
Этот метод может помочь решить общую проблему в исследованиях жидких кристаллов. Это означает, что пиковое молекулярное движение во время фотореакции не может быть определено обычными методами. Основное преимущество этих методов заключается в том, что структура и сверхбыстрая динамика фотовозбужденного жидкого кристалла получаются как из дифференциального ИК-спектра, так и из дифференциальных картин дифракции электронов.
Я продемонстрирую инфракрасную вибрационную спектроскопию с временным разрешением. Для приготовления фазового образца раствора для ИК-колебательной спектроскопии с временным разрешением растворяют 0,025 мкм пи-COT в 25 мл дихлорметана, чтобы получить 1 ммоль на литр. Чтобы приготовить образец жидкокристаллической фазы, покройте подложку из фторида кальция толщиной 3 миллиметра порошком pi-COT.
Поместите подложку на горячую плиту и растопите порошок при температуре 100 градусов Цельсия. Выключите конфорку и дайте образцу остыть до комнатной температуры. После подготовки образца включите титано-сапфировый лазер и усилитель чирпированных импульсов и дайте им термически стабилизироваться.
Установите длительность импульса равной 120 фемтосекундам, частоте повторения — 500 Гц, а флюенсу падения — 1 миллиджоулю на квадратный сантиметр. Проверьте мощность и стабильность импульсов УФ-насоса и зонда среднего ИК-диапазона и при необходимости перенастройте оптические тракты. Охладите ртутно-кадмиево-теллуриевый ИК-детектор жидким азотом.
Расположите спектрометр на одной линии с оптическим трактом и откалибруйте спектрометр. Затем установите силиконовую пластину толщиной 1 миллиметр на держатель образца в качестве тестового образца. Установите задержку насос-щуп на положительное значение.
Оптимизируйте перекрытие насос-зонд путем регулировки зеркала, направляющего луч насоса на образец, для получения максимальной интенсивности переходного сигнала. Настройте сканирование, начиная с минус 100 пикосекунд и заканчивая 1000 пикосендов, с шагом 5 пикосекунд. Отсканируйте тестовый образец и определите временное положение, в котором начинает проявляться переходный сигнал, или нулевое время.
Затем, если используется проба из фазы раствора, установите в прибор проточную ячейку с окнами из фторида бария и начните прокачку пробы через проточную ячейку. При использовании образца жидкокристаллической фазы установите образец на моторизованный столик, чтобы обеспечить непрерывное перемещение положения лазерного пятна на образце, чтобы свести к минимуму повреждения, вызванные лазером. Подтвердите временное положение нуля с образцом и установите время начала, окончания и шага.
Выберите каталог для файла данных и запустите процесс сбора данных. Сначала протравить и очистить пластину с покрытием из нитрида силикона, чтобы получить подложку с окнами из нитрида силикона. Поместите подложку на патрон для нанесения пловального покрытия окнами из нитрида силикона вверх.
Покройте подложку отжимом 10 миллиграммом на миллилитр раствором пи-COT в хлороформе. Поместите подложку с отжимным покрытием на горячую плиту и нагрейте ее до 100 градусов Цельсия, чтобы расплавить пи-COT. Выключите горячую пластину, когда она достигнет 100 градусов Цельсия, и дайте образцу остыть на месте, чтобы получить жидкую кристаллическую пленку pi-COT.
Чтобы начать измерение, установите образец на держатель образца прибора. Поместите держатель образца в вакуумную камеру и закройте камеру. Используйте роторный насос для откачки из камеры до давления менее 1000 Паскалей или 10 миллибар.
Затем с помощью турбомолекулярного насоса опустошите камеру электронной пушки примерно до 10 до минус 6 Па. Далее включите титано-сапфировый лазер и усилитель чирпированных импульсов, и дайте им термически стабилизироваться в течение одного часа. Установите частоту повторения на 500 герц.
Включите чиллер ПЗС-камеры, и охладите устройство до 10 градусов Цельсия. Затем включите электропитание, и установите напряжение на 75 киловольт. Откройте специальное программное обеспечение перекрытия и установите время экспозиции на 50 миллисекунд.
Чтобы найти положение электронного пучка зонда, сначала установите начальный тип на z-перекрытие и нажмите кнопку «Пуск». Когда этот процесс завершится, выберите Y-перекрытие и нажмите кнопку Начать снова. Затем установите электронный луч в положение обскура держателя образца и совместите лазер накачки с отраженным светом накачки рядом с отверстием.
Затем переключитесь на программу дифракции электронов с временным разрешением. Установите тип запуска на временное разрешение, а влияние насоса на 2 миллиджоуля на квадратный сантиметр. Нажмите «Пуск», чтобы измерить положение нулевого времени на основе стандартного неорганического материала, закрепленного на держателе образца.
Затем вставьте чашку Фарадея в траекторию электронного пучка и измерьте флюенс с помощью пикоамперметра. Поверните фильтр нейтральной плотности, чтобы отрегулировать флюенс электронного пучка на 3 пикоампера. Отрегулируйте флюенс импульса насоса на 1,67 миливатт, вращая волновую пластину на линии луча насоса.
Затем в программном обеспечении для дифракции электронов с временным разрешением перейдите в положение образца. Установите время экспозиции ПЗС-камеры на 1 секунду. Установите начальный тип на одиночный и нажмите кнопку «Пуск», чтобы получить статическое изображение электронной дифракции.
Затем включите элемент Пельтье ПЗС-камеры и охладите устройство до минус 20 градусов по Цельсию. После того как ПЗС-камера остынет, задайте количество шаблонов для сбора на каждом шаге, а также количество шагов для измерений с временным разрешением. Установите начальный тип на time-resolved и нажмите Start, чтобы получить изображения электронной дифракции с временным разрешением.
Когда эксперимент закончится, выключите источник питания для ускорения электронов. Соберите изображение с временным разрешением таким же образом, чтобы получить фон. Дифференциальный ИК-колебательный спектр жидкокристаллической тонкой пленки на основе pi-COT имел пики, соответствующие модам растяжения колец COT и тиазола, а также бифенилмоядов, которые сильно активны в ИК-активной форме плоской T1 формы pi-COT.
Зависящая от времени эволюция пиковой интенсивности имела волновое число 1338 обратных сантиметров. Это согласуется с переходом от седла к плоскому подтверждению в течение 2 пикосекунд. Затем следует релаксация до исходной седловой формы через 10-20 пикосекунд для одиночных молекул или 150 пикосекунд для уложенных молекул.
Пики дифракции электронов от фоточувствительных мойад были выделены из длинной картины, в которой доминируют длинные углеродные цепи, путем вычитания исходной дифракционной картины из картины, полученной через 500 пикосекунд после ультрафиолетового импульсного излучения. Положительный и отрицательный пики указывали на формирование и потерю, соответственно, структурных особенностей через 500 пикосекунд после облучения. Образование новой упорядоченной структуры началось примерно через 200 пикосекунд после фотовозбуждения, что согласуется с релаксацией до исходной седловой формы в уложенных молекулах.
Потеря порядка укладки пи-пи на временной шкале в 300 пикосекунд была связана с небольшим количеством плоских конформеров со временем жизни от 300 до 1000 пикосекунд, скручивающихся для минимизации стерических помех. Впервые идея этого метода пришла нам в голову, когда мы обсуждали жидкие кристаллы, которые обычно не исследуются по времени дифракции, потому что они не дают хороших картин дифракции электронов. Наша методология позволяет идентифицировать изменения в дифракционных картинах жидких кристаллов, обеспечивая доступ к важной информации о структуре и сверхбыстрой динамике молекул.
После освоения этих техник их можно выполнить за полдня, если они выполнены правильно. Эти методы потенциально могут быть использованы для ответа на дальнейшие вопросы о структуре и сверхбыстрой динамике более сложных биоматериалов.
View the full transcript and gain access to thousands of scientific videos
В этой статье представлены протоколы для дифференциальных анализов с использованием временно-разрешенной инфракрасной вибрационной спектроскопии и электронной дифракции. Эти методы позволяют наблюдать локальные структурные деформации вокруг фотовозбужденных молекул в столбчатой жидкой кристаллической среде, предоставляя представление о взаимосвязи между структурой и динамикой в фотоактивных материалах.
Observing ultrafast structural dynamics in soft materials remains a critical challenge in early-stage discovery, particularly for photoactive systems where conformational changes dictate function. The differential detection approach combining time-resolved IR spectroscopy and electron diffraction enables direct correlation of molecular structure with picosecond-scale dynamics, supporting mechanistic de-risking in target validation. This capability enhances predictive confidence when evaluating photo-responsive molecular scaffolds for therapeutic or diagnostic applications.
The method integrates into the discovery continuum by enabling hypothesis testing in early biology, supporting assay readiness in screening, and delivering quantitative structural dynamics data for analytics-driven decision-making.