Полупроводниковое секвенирование для предимплантационного генетического тестирования на анеуплоидию

9K просмотров

Процитировано: 2

00:09 мин

25 августа 2019 г.

10.3791/59273-v

25 августа 2019 г.

9K просмотров

Baoheng Gui^*¹^,²^,³ , Yingxin Zhang^*⁴ , Bo Liang⁵ , Yvonne Ka Yin Kwok⁴ , Wai Ting Lui⁴ , Queenie Sum Yee Yeung⁴ , Lingyin Kong⁶ , Liming Xuan⁶ , Jacqueline Pui Wah Chung⁴ , Kwong Wai Choy³^,⁴

¹Department of Genetics and Metabolism, Maternal and Child Health Hospital of Guangxi Zhuang Autonomous Region, ²Birth Defects Prevention and Control Institute of Guangxi Zhuang Autonomous Region, ³Shenzhen Research Institute, The Chinese University of Hong Kong, ⁴Department of Obstetrics and Gynaecology, The Chinese University of Hong Kong, ⁵State Key Laboratory of Microbial Metabolism, Joint International Research Laboratory of Metabolic and Developmental Sciences, School of Life Sciences and Biotechnology, Shanghai Jiao Tong University, ⁶Basecare Medical Device Co., Ltd

^* These authors contributed equally

Здесь мы внедряем метод секвенирования полупроводников для предимплантационного генетического тестирования на анеуплоидию (PGT-A) с преимуществами короткого оборота времени, низкой стоимости и высокой пропускной способности.

Больше видео

Chapters in this video