Коррозионная обработка изображений в интерфейсе Metal-краски с использованием вторичной спектрометрии "время полета"

Такой подход выявляет процесс коррозии в интерфейсе металлической краски, обеспечивая понимание механических и химических изменений на интерфейсе с высокой чувствительностью поверхности. Вторичная ионная масс-спектрометрия Time-of-flight, или ToF-SIMS, является мощным поверхностным инструментом. Он обеспечивает химические карты с высоким разрешением боковой и массы и позволяет эффективно характеристики на металлокрасочном интерфейсе.

Таким образом, важный совет, что новый практикующий должен знать, чтобы убедиться, что образец не касается извлечения конуса, чтобы избежать потенциального повреждения инструмента. Визуальная демонстрация этого метода имеет решающее значение для исследователей, которые являются новыми для ToF-SIMS и поможет им с фундаментальным процессом анализа. Для начала загрузите подготовленные образцы, подвергшиеся воздействию соли и воздействию воздуха, в блок нагрузки приборов.

Насос вниз блок нагрузки, передать образцы в главную камеру, и ждать, пока камера находится на уровне или ниже 10 до минус восьми миллибаров. Затем, питание жидкого металла ионные пушки, или LMIG, анализатор, и источник света. Установите основную пушку как LMIG с предпочтительным металлом, висмутом и начните LMIG с помощью предопределенной спектрометрии.

Далее используйте программное обеспечение или ручное управление для перемещения этапа образца в чашку Faraday. Затем автоматически согласуем ионный луч. После этого начните измерять целевой ток на кубке Фарадея и выберите Direct Current.

Нажмите X Blanking и отрегулируйте его до максимизации целевого тока. Затем повторите процесс с Y Blanking. Остановите измерение после завершения.

Далее, руководствуясь видом через главное окно камеры, медленно опустите стадию выборки до тех пор, пока верхняя часть образца не опустится ниже нижней части конуса экстрактора. Затем распоимить сцену под конусом так, чтобы сборка интерфейса была видна в макропросмотреть в программном обеспечении. После этого установите инструмент для обнаружения отрицательных ионов.

Загрузите нужные настройки анализатора и активируйте анализатор. Затем переключитесь на вид микромасштаба и установите растровое поле зрения до 300 на 300 микрометров. Затем установите сигнал на вторичный ион, размер raster до 128 на 128 пикселей, и тип raster случайным образом.

Отрегулируйте вторичное ионное изображение рентабельности инвестиций, медленно перемещая этап выборки вертикально до тех пор, пока изображение не будет сосредоточено на перекрестии в графическом интерфейсе Navigator. Не двигайте джойстик ручкой вниз слишком быстро при регулировке направления, в противном случае извлечения конуса ударит этапе и получить повреждения. После этого используйте очистку постоянного тока для удаления золотого покрытия и поверхностных загрязняющих веществ.

После того, как поверхность образца чиста, включите компенсацию заряда и загрузите желаемые настройки пушки наводнения. Затем переориентация вторичного ионового изображения на рентабельность инвестиций. Как только он сфокусирован, увеличьте напряжение отражателя до тех пор пока вторичное изображение иона не исчезнет.

Затем уменьшите напряжение на 20 вольт и остановите регулировку. Затем откройте спектр массы в окнах изображений и отобразить рентабельность интерфейса металлокрасочные работы. Начните быстрое сканирование и остановите сканирование, как только появится спектр.

Затем, в окне массового спектра, выберите известные пики в спектре массы из быстрого сканирования и заполните формулы. После этого добавьте пики интереса к пиковой списку. Откройте окно измерения, установите тип raster случайным, размер до 128 на 128 пикселей, и скорость до одного выстрела на пиксель.

Установите прибор для выполнения 60 сканирований и начните измерение. Сохранить завершенный спектр после этого. Затем назовите и сохраните местоположение рентабельности инвестиций.

Переместив сцену, чтобы найти новые ИТ-версии для анализа. Затем загрузите нужные настройки изображения SIMS высокого разрешения для LMIG. Переместив этап образца в чашку Фарадея, а также переориентировать и переориентировать ионный луч для визуализации.

Затем переместив сцену обратно в сохраненную позицию рентабельности инвестиций. Отрегулируйте напряжение отражателя, приобретйте быстрый спектр и выполните массовую калибровку. Затем установите тип raster случайным, размер до 256 на 256 пикселей, и скорость до одного выстрела на пиксель.

Установите количество сканирований до 150 и запустите получение изображения. После завершения, экспортировать данные, удалить образец, и выключить инструмент. Вторичная ионная масс-спектрометрия показала небольшие пики оксида алюминия и оксигидроксида на алюминиево-лакокрасочном интерфейсе образца, подвергаемого воздействию только воздуха, что указывает на легкую коррозию.

В отличие от этого, образец, обработанный соленой водой, имел гораздо более крупные пики и дополнительные виды оксигидроксида. Это согласуется с образцом, обработанным соленой водой, который испытал более сильную коррозию, чем образец, подвергшийся воздействию только воздуха. 2D молекулярные изображения подтверждают, что виды оксида алюминия и оксигидроксида были гораздо более распространены в образце, который был обработан соленой водой.

Понимание повреждений поверхности и коррозии развития является очень сложной задачей. ToF-SIMS является идеальным инструментом для этого приложения, как показано в этой процедуре. В дополнение к изучению процесса коррозии, ToF-SIMS широко используется в характеристике поверхности материала в радиологических, биологических и экологических образцах.

Пожалуйста, имейте в виду, что параметры масс-спектра и изображения приобретения будет варьироваться в зависимости от типов LMIG, оставшийся срок службы LMIG, и другие факторы. В этом методе мы иллюстрировать, что ToF-SIMS очень силен в выявлении межфациальной химии в микромасштабе и обеспечении химического картирования с высоким боковом распределением и высокой точностью массы. ToF-SIMS — это чувствительный к поверхности метод.

Пожалуйста, всегда носите перчатки, и защитить образцы, которые вы обрабатываете.