Rapid Repetition Rate Fluctuation Measurement of Soliton Crystals in a Microresonator

Peng Xie; Xinyu Wang; Weiqiang Wang; Wenfu Zhang; Zhizhou Lu; Yang Wang; Wei Zhao

doi:10.3791/60689

Журнал

/

Инженерия

/

Быстрое измерение флуктуаций частоты повторения кристаллов солитона в микрорезонаторе

Rapid Repetition Rate Fluctuation Measurement of Soliton Crystals in a Microresonator

JoVE Journal
Инженерия

Для просмотра этого контента требуется подписка на Jove Войдите в систему или начните бесплатную пробную версию.

JoVE Journal Инженерия

Rapid Repetition Rate Fluctuation Measurement of Soliton Crystals in a Microresonator

Быстрое измерение флуктуаций частоты повторения кристаллов солитона в микрорезонаторе

Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

3,054 Views

•

07:42 min

•

December 15, 2021

DOI:

10.3791/60689-v

DOI:

10.3791/60689-v

•

07:42 min

December 15, 2021

•

3020 Views

Peng Xie*^1,2, Xinyu Wang*^1,2, Weiqiang Wang^1,2, Wenfu Zhang^1,2, Zhizhou Lu^1,2, Yang Wang^1,2, Wei Zhao^1,2

¹State Key Laboratory of Transient Optics and Photonics, Xi’an Institute of Optics and Precision Mechanics (XIOPM),Chinese Academy of Sciences (CAS)²University of Chinese Academy of Sciences

Резюме

Здесь мы представляем протокол для генерации кристаллов солитона в микрокольцевом резонаторе с бабочкой с использованием метода термической настройки. Далее флуктуации частоты повторения кристалла солитона с одной вакансией измеряют с помощью отсроченного самогетеродинного метода.