Спектроскопия пьезорефлектанса оптических переходов в слоистых кристаллах Ван-дер-Ваальса

143 просмотров

09:06 мин.

22 мая 2026 г.

10.3791/70205-v

22 мая 2026 г.

143 просмотров

Мы представляем воспроизводимый протокол пьезорефлектансной спектроскопии с модуляцией деформации, который позволяет измерять ΔR/R с фиксированным обнаружением кристаллов ван-дер-Ваальса, перенесённых на пьезокерамику, и приводит к характеристике прямых оптических переходов через спектры ΔR/R с использованием подгонки третьей производной по формуле Аспнеса.

Больше видео

Кристаллы Ван-дер-Ваальса

Chapters in this video

0:00

Introduction

0:25

Preparation and Transfer of Van der Waals Crystal Flakes onto the Piezoceramic Substrate

1:47

Electrical Contact Fabrication and Piezoceramic Integration

2:38

Measurement of AC Reflectance Component (R) Using Lock-In Detection

5:01

DC Reflectance Component (R) Measurement Using Chopper-Referenced Lock-In Mode

7:13

Results

8:23

Conclusion

Related Videos