Рабочие процессы криогенной сканирующей электронной нанолучевой дифракции для структурной характеристики чувствительных к пучку интерфейсов аккумуляторных батарей

В данном протоколе описывается рабочий процесс криогенной сканирующей электронной нанолучевой дифракции (cryo-SEND) с контролируемой дозой облучения для характеристики чувствительных к пучку интерфейсов аккумуляторов. Этот метод позволяет сохранить нативные твердоэлектролитные интерфазы за счет сочетания безледяной криогенной обработки, контроля дозы электронов и дифракционного имиджинга. Рабочий процесс включает рекомендации по подготовке образцов, криогенному переносу, юстировке пучка и сбору данных.