XPS Surface Analysis of Materials

X-ray photoelectron spectroscopy, or XPS, is a surface analysis method for studying materials. It measures elemental composition, empirical formula, chemical state, and electronic state of the elements in a sample. Because the signal comes from the top few nanometers, XPS is especially useful for examining surfaces.

X-ışını fotoelektron spektroskopisi veya XPS, bir malzemenin yüzey kimyasını ölçmek için kullanılabilen tahribatsız bir tekniktir. XPS'de, bilinen enerjinin bir X-ışını bir atoma çarpar. Bir çekirdek kabuk elektronu, X-ışını fotonunu emerek yörüngesini terk etmek için yeterli enerji kazanır.

Elektron tarafından emilen fazla enerji, kineti...