Waiting
Login processing...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
JoVE Journal
Chemistry

A subscription to JoVE is required to view this content.
You will only be able to see the first 2 minutes.

На месте SIMS и ИК спектроскопии Ну определенных поверхность, подготовленную мягкой посадки Масса выбранных ионов
 
Click here for the English version

На месте SIMS и ИК спектроскопии Ну определенных поверхность, подготовленную мягкой посадки Масса выбранных ионов

Article DOI: 10.3791/51344
June 16th, 2014

Chapters

Summary June 16th, 2014

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

Мягкая посадка ионов массового выбран на поверхности является мощным подход к высоко-контролируемого получения новых материалов. В сочетании с анализом по на месте вторичной ионной масс-спектрометрии (SIMS) и инфракрасной спектроскопии поглощения отражения (IRRAS), мягкая посадка обеспечивает беспрецедентные понимание взаимодействия четко определенных видов с поверхностей.

Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter