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JoVE Journal
Engineering

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JoVE Journal Engineering
Caracterização de arrays em fases ópticas integradas siN em uma estação de teste em escala de wafer
Fabrication of Surface Acoustic Wave Devices on Lithium Niobate
Journal (Engineering)
Fabrication of Surface Acoustic Wave Devices on Lithium Niobate
Development of an Experimental Setup for the Measurement of the Coefficient of Restitution under Vacuum Conditions
Journal (Engineering)
Development of an Experimental Setup for the Measurement of the Coefficient of Restitution under Vacuum Conditions
 
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Caracterização de arrays em fases ópticas integradas siN em uma estação de teste em escala de wafer

Article DOI: 10.3791/60269-v • 05:57 min • April 1st, 2020
April 1st, 2020 •
1, 1, 1, 1, 1, 1, 1
1University Grenoble Alpes and CEA, LETI, Minatec Campus

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Aqui, descrevemos o funcionamento de um circuito fotônico integrado SiN contendo matrizes ópticas em fases. Os circuitos são usados para emitir raios laser de baixa divergência no infravermelho próximo e guiá-los em duas dimensões.

Tags

Engenharia Edição 158 Matrizes em fases ópticas fotônica integrada SiN fotônica de silício direção de feixe LIDAR duas dimensões comprimento de onda único
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