Waiting
Login processing...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
Journal / Engineering / Быстрое измерение флуктуаций частоты повторения…
JoVE Journal
Engineering

A subscription to JoVE is required to view this content. Sign in or start your free trial.

JoVE Journal Engineering
Быстрое измерение флуктуаций частоты повторения кристаллов солитона в микрорезонаторе
Synchrotron X-ray Microdiffraction and Fluorescence Imaging of Mineral and Rock Samples
Journal (Engineering)
Synchrotron X-ray Microdiffraction and Fluorescence Imaging of Mineral and Rock Samples
Terahertz Microfluidic Sensing Using a Parallel-plate Waveguide Sensor
Journal (Engineering)
Terahertz Microfluidic Sensing Using a Parallel-plate Waveguide Sensor
 
Click here for the English version

Быстрое измерение флуктуаций частоты повторения кристаллов солитона в микрорезонаторе

Article DOI: 10.3791/60689-v • 07:42 min • December 15th, 2021
December 15th, 2021 •
*1,2, *1,2, 1,2, 1,2, 1,2, 1,2, 1,2
1State Key Laboratory of Transient Optics and Photonics, Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics (XIOPM), Chinese Academy of Sciences (CAS), 2University of Chinese Academy of Sciences
* These authors contributed equally

Chapters

Summary
Automatic Translation

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

Здесь мы представляем протокол для генерации кристаллов солитона в микрокольцевом резонаторе с бабочкой с использованием метода термической настройки. Далее флуктуации частоты повторения кристалла солитона с одной вакансией измеряют с помощью отсроченного самогетеродинного метода.

Tags

Инженерия Выпуск 178 Фотоника Интегрированная оптика Оптический частотный гребень Флуктуация частоты повторения
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter