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开尔文探针力显微镜(KPFM)测量表面形貌和表面电位差异,而扫描电子显微镜(SEM)和相关光谱可以阐明表面形态、组成、结晶度和晶体取向。因此,SEM与KPFM的共定位可以深入了解纳米级成分和表面结构对腐蚀的影响。
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开尔文探针力显微镜(KPFM)测量表面形貌和表面电位差异,而扫描电子显微镜(SEM)和相关光谱可以阐明表面形态、组成、结晶度和晶体取向。因此,SEM与KPFM的共定位可以深入了解纳米级成分和表面结构对腐蚀的影响。