本文描述了一种用于研究超短激光脉冲诱导的早期等离子体演化的实验方法。利用该方法,可获得具有高时间分辨率和高空间分辨率的早期等离子体高质量图像。采用一种新颖的集成原子模型对早期等离子体的形成机制进行模拟与解释。
本文描述了一种用于研究超短激光脉冲诱导的早期等离子体演化的实验方法。利用该方法,可获得具有高时间分辨率和高空间分辨率的早期等离子体高质量图像。采用一种新颖的集成原子模型对早期等离子体的形成机制进行模拟与解释。
早期等离子体由高强度激光照射靶材及随后的靶材电离产生。其动力学行为在激光与材料相互作用中起着重要作用,尤其是在空气环境中1-11。
通过泵浦-探测阴影法1-3和干涉测量法1,4-7已实现对早期等离子体演化的观测。然而,已有研究的时间范围和所用激光参数范围仍有限。例如,在激光脉冲峰值后100皮秒(ps)以内的延迟时间内,对等离子体前沿位置和电子数密度的直接测量仍然很少,特别是对于脉冲持续时间约为100飞秒(fs)、功率密度约为1014 W/cm2的超短脉冲情形。在这些条件下产生的早期等离子体,直到最近才以高时间和空间分辨率被成功捕捉12。本文将详细说明该高精度测量的具体装置策略与实验步骤。该测量方法的基本原理是光学泵浦-探测阴影法:将一个超短激光脉冲分束为泵浦脉冲和探测脉冲,通过调节两束光的光程差来控制其间的延迟时间。泵浦脉冲作用于靶材并产生早期等离子体,探测脉冲则穿过等离子体区域,检测电子数密度的非均匀性。此外,还利用参考文献12中模拟模型的计算结果生成动画,以极高分辨率(0.04 ~ 1 ps)展示等离子体的形成与演化过程。
实验方法和模拟方法均可适用于多种时间尺度和激光参数。这些方法不仅可用于研究金属产生的早期等离子体,还可用于研究半导体和绝缘体产生的早期等离子体。
1. 光学系统设置(图1)
2. 泵浦-探测同步
3. 样品与载台准备
4. 消融与测量
5. 代表性结果
测量得到的阴影图像分别如图2和图3所示,其中焦点位于靶表面略上方和略下方。纵向和径向膨胀位置分别绘制在图4和图5中。这两种情况下,在前100 ps内的纵向膨胀显著不同;然而,在随后的400 ps内的纵向膨胀以及径向膨胀则较为相似。对于第一种情况,早期等离子体在100 ps内具有一维多层结构的膨胀形态。对于第二种情况,早期等离子体在100 ps内具有二维膨胀结构,且变化不大。
采用该模拟模型12研究早期等离子体演化的机制。时间零点定义为激光脉冲峰值到达靶材表面的时刻。如图6和图7所示,模拟得到的两种情况下的早期等离子体演化过程均与实验测量结果吻合良好。对于第一种情况,利用该模拟模型还预测了1 ps内早期等离子体的形成过程,并在图8中展示。早期等离子体包含一个空气击穿区域和一个铜(Cu)等离子体区域。空气击穿首先由多光子电离引起,随后发生雪崩电离。然而,在第二种情况下,焦点位于靶材表面以下,未形成独立的空气击穿区域。相反,空气电离发生在铜等离子体前沿附近,其原因是铜靶发射出的自由电子通过碰撞电离引发空气电离。

图 1. 泵浦-探测阴影成像测量的示意图。

图 2. 焦点略高于表面时,铜等离子体在不同延迟时间下的膨胀过程。激光波长:800 nm;脉冲持续时间:100 fs;功率密度:4.2 × 1014 W/cm2;靶材:Cu。

图 3. 焦点略低于表面时,Cu 等离子体在不同延迟时间下的膨胀过程。激光波长:800 nm;脉冲持续时间:100 fs;功率密度:4.2 × 1014 W/cm2;靶材:Cu。

图 4. 焦点略高于表面时,等离子体在不同延迟时间下的纵向与径向扩展位置。激光波长:800 nm;脉冲持续时间:100 fs;功率密度:4.2 × 1014 W/cm2;靶材:Cu。

图 5. 焦点略低于表面时,等离子体在连续延迟时间下的轴向和径向扩展位置。激光波长:800 nm;脉冲持续时间:100 fs;功率密度:4.2 × 1014 W/cm2;靶材:Cu。
图6. 焦点略高于表面时,在70 ps延迟时间内测得的与计算的等离子体膨胀动画。激光波长:800 nm;脉冲持续时间:100 fs;功率密度:4.2 × 1014 W/cm2;靶材:Cu。点击此处查看动画。
图7. 焦点略低于表面时,在70 ps延迟时间内测得的与计算得到的等离子体膨胀动画。激光波长:800 nm;脉冲持续时间:100 fs;功率密度:4.2 × 1014 W/cm2;靶材:Cu。点击此处查看动画。
图8. 焦点略高于表面时,在1 ps延迟时间内测得的和计算的等离子体膨胀动画。激光波长:800 nm;脉冲持续时间:100 fs;功率密度:4.2 × 1014 W/cm2;靶材:Cu。 点击此处查看动画。
本文介绍的测量与模拟方法能够更准确地研究早期等离子体动力学,并更深入地理解空气和铜的电离机制。通过时间分辨率为1 ps、空间分辨率为1 μm的测量,成功捕捉到高质量的等离子体结构,且该测量具有良好的重复性。关键步骤在于精确对准光束,并制备出具有高平整度和低粗糙度的靶材表面。
该方法可适用于其他目标材料和多种激光参数。泵浦-探测阴影成像法的唯一限制是电子数密度变化过低。
未声明任何利益冲突。
作者谨此衷心感谢美国国家科学基金会(资助号:CMMI-0653578,CBET-0853890)为本研究提供的经费支持。
| 姓名 | 公司 | 目录编号 | 评论 |
|---|---|---|---|
| 激光器 | Spectra-Physics | SPTF-100F-1K-1P | |
| ICCD 相机 | Princeton Instruments | 7467-0028 | |
| 示波器 | Rigol | DS1302CA | |
| 光电二极管 | Newport | 818-BB30 | |
| 线性位移台 | Newport | 433 | |
| 百分表 | Mitutoyo | ID-C112E |
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