X射线光谱为高温等离子体提供了丰富的信息。本文介绍了用于观测托卡马克等离子体中中等原子序数元素的类氢和类氦离子的高波长分辨率空间成像X射线谱仪的操作方法。
X射线光谱为高温等离子体提供了丰富的信息。本文介绍了用于观测托卡马克等离子体中中等原子序数元素的类氢和类氦离子的高波长分辨率空间成像X射线谱仪的操作方法。
X射线光谱为高温等离子体提供了大量信息;例如,可通过谱线强度比推断出电子温度和电子密度。利用观测等离子体的约翰型(Johann)光谱仪,可以以良好的空间和时间分辨率构建等离子体参数(如密度、温度和速度)的分布剖面。然而,利用已得到充分诊断的实验室等离子体所获得的X射线光谱对原子模型代码进行基准验证,对于在缺乏其他独立诊断手段时使用此类光谱确定等离子体参数具有重要意义。本文介绍了高分辨率带空间分辨X射线晶体成像光谱仪(HIREXSR)的操作方法,这是一种具有高波长分辨率的空间成像X射线光谱仪,用于观测托卡马克等离子体中中等原子序数元素的类氢和类氦离子。此外,本文还介绍了一种激光吹蚀系统,该系统能够以精确的时间将此类离子注入等离子体,从而实现对等离子体输运特性的扰动研究。
X射线谱为高温等离子体提供了大量信息;例如,可通过谱线强度比推断出电子温度和电子密度。利用离轴观测等离子体的约翰内斯(Johann)谱仪,可以以良好的空间和时间分辨率构建等离子体内部参数(如密度、温度和速度)的分布剖面1,2。本文介绍了高分辨率带空间分辨X射线晶体成像谱仪(HIREXSR)的操作方法,该仪器是一种具有高波长分辨率和空间成像能力的X射线谱仪,用于观测托卡马克等离子体中中等原子序数元素的类氢和类氦离子。
HIREXSR 被部署在 Alcator C-Mod 上,这是一种环形半径和小环半径分别为 0.67 m 和 0.22 m 的托卡马克聚变装置。它通常在氘等离子体中运行,等离子体持续时间约为 2 秒,平均密度介于 0.2–8.0 × 1020 m-3 之间,中心电子温度介于 1–9 keV3 之间。在此条件下,中高 Z 杂质元素高度电离,并在 HIREXSR 可测量的 X 射线波段辐射。利用诊断良好的实验室等离子体获得的 X 射线光谱对原子模型代码进行基准验证,对于在缺乏其他独立诊断手段时利用此类光谱确定等离子体参数具有重要意义4。
每台光谱仪都是根据其特定用途构建的。因此,有必要对仪器及其相关概念进行一般性描述,以充分理解这些强大的工具5。当光子从晶体的相邻层反射并传播一段等于其波长整数倍的距离时,就会发生布拉格反射。图1描绘了这一现象。该条件由公式 nλ = 2d sin θb 表示,其中 n 为反射级次, λ 为光子的波长,d 为晶体相邻层之间的间距,θb 为布拉格角。λ 与 θb 之间的一一对应关系表明,探测器平面上某一特定位置的所有光子均具有相同的波长。然而在实际中,由于吸收效应和精度限制,会出现偏离布拉格角的情况。这导致只有很小的角度范围内能产生显著的相长干涉,该范围由摇摆曲线表示6。图2为方解石晶体的一条典型摇摆曲线示例。
HIREXSR 是一种采用球面弯曲晶体的约翰型光谱仪7。在描述此类装置之前,先讨论一种更简单的圆形光谱仪是合适的。该装置由一块弯曲晶体组成,能够将入射光子在其对应的布拉格角处反射至一列单X射线光子计数像素探测器上。晶体与探测器均与罗兰圆相切,如图3所示。罗兰圆的直径等于晶体的曲率半径。从圆周上某一给定点到晶体上任意位置的所有光线,相对于晶体本身的入射角均相同。
对于 HIREXSR,采用球面弯曲晶体可在子午面内实现空间分辨,如图4所示。子午聚焦点 fm 定义为:fm = Rc sin θb,其中 Rc 为晶体的曲率半径。弧矢聚焦点 fs 定义为:fs = −fm/cos 2θb。光谱仪的空间分辨率 Δx 由下式给出:
,其中 Lcp 为晶体与等离子体之间的距离,d 为晶体的高度。由于晶体晶面的二维间距是离散的,因此在选择材料时必须考虑这一因素。由于探测器表面为平面,只能与罗兰圆在一点相切,这会导致误差,因为探测到的光线并未精确落在罗兰圆上对应的位置。物理上,这种失配表现为特定能量光子在探测器上的“展宽”现象。该约翰误差定义为
,其中 l 为晶体的宽度。若探测器像素宽度 δxp 远大于约翰误差,则光谱分辨率与其无关;若二者大小相近,则总误差可近似为
。晶体光谱仪的分辨本领由下式给出:
,其中
。然而,在 HIREXSR 中,并非将探测器置于与罗兰圆某一点相切的位置,而是将探测器略微倾斜,以牺牲精度来换取更大的光谱范围,如图5所示。该误差分析已通过实验验证,并符合预期8。
设计约翰逊光谱仪时需考虑两个关键参数。首先,成像范围决定了光谱仪的观测区域。在等离子体研究中,理想情况是能够观测其整个横截面,以便区分由极向和环向旋转引起的谱线位移。HIREXSR 的安装方式使其能够观测整个等离子体,并略微偏离光轴倾斜放置 ∼8° (图示于 图6)以实现精确的环向测量。其次,时间分辨率决定了谱仪能够记录的事件之间的最短时间间隔。对于Alcator C-Mod而言,理想的时间分辨率应低于20毫秒,短于能量和粒子的约束时间。HIREXSR所采用的X射线计数像素探测器可支持6至20毫秒或更高的时间分辨率。9. 表1 总结了所有模块的技术规格。
用于扰动等离子体研究时,Alcator C-Mod 上的激光烧蚀系统可用于精确时序控制下的多次烧蚀10激光器为掺钕钇铝石榴石(Nd:YAG)激光器,工作频率最高可达10 Hz。激光照射至远程控制的光学导引系统,如图所示。 图7 聚焦并引导光束至载玻片上的目标位置。需要控制激光的光斑尺寸,以确保注射过程不会干扰等离子体。通过远程控制的线性平台沿光轴移动长焦距(1,146 mm)会聚透镜,从而实现烧蚀光斑尺寸的调节,范围可从 ∼0.5 到 7 毫米。通过二维压电反射镜实现快速光束偏转。该压电系统安装在由 RS232 驱动的镜架上。除 Nd:YAG 激光器外,还使用 633 纳米的半导体激光器来指示主(红外)光束的位置。两束光通过第一块反射镜实现共线。
访问受限。请登录或开始试用以查看此内容。
1. 选择合适的光谱线
2. 安装 HIREXSR 硬件
3. 搭建激光烧蚀(LBO)系统
4. 进行等离子体实验
5. 使用 THACO 标定 HIREXSR 锁模数据
6. 使用 THACO 对 HIREXSR 数据进行高级分析
访问受限。请登录或开始试用以查看此内容。
一个代表性的像素探测器数据样本,对应于类氦氩光谱的一个时间 bin,如图所示 图17谱线因球面晶体的作用而弯曲成椭圆形,清晰可见。顶部探测器存在破损的探测面板,且所有探测器上均散布有一些坏像素点。破损探测面板的数据应予以忽略。图中展示了来自探测器的切片,显示了沿单条弦测量的光谱以及由THACO完成的光谱拟合结果。 图18 和 图19. 所得的线积分轮廓数据如图所示 图20.
通过THACO对类氦氩谱线的分析,可得到倒置的等离子体温度和环向速度分布,其示例如图21所示。HIREXSR测得的离子温度与其他测量通道的独立诊断结果一致1。使用氩(一种再循环杂质)作为示踪元素,可实现对整个等离子体演化过程中离子分布的连续测量。这对于研究长时间尺度下等离子体演化的输运特性至关...
访问受限。请登录或开始试用以查看此内容。
该技术生成的数据可用于多种实验研究。离子温度和环向速度分布可用于广泛的输运研究,包括内禀自生等离子体旋转和非局域扰动效应。通过激光烧蚀注入杂质并测量其光谱,还可以提供有关等离子体中杂质输运的重要信息,如Howard et al. 201110中所进行的工作。目前,尚无其他等离子体诊断方法能够从等离子体核心区域提供时间与空间分辨的离子分布数据1,这使得X射线成像光谱学成为研究等离子体行为的一种新颖方法。
该方案中最关键的步骤是识别感兴趣波长区域内的谱线。所观测的谱线必须足够强,以获得良好的计数统计结果,并且彼此之间以及其他伴生谱线之间应能充分分辨。这些谱线的相对强度可能随温度变化而发生显著改变,而诸如介电复合等量子过程也可能产生可测量的影响。
如果谱线较弱,可以通过引入更多待测杂质来增强其强度。若需要观测不同波长范围,只需将探测器沿罗兰圆移动即可,但需确保布拉格角仍大于45°以避免光线发散,同时小于80°以防止入射光子与反射光子之间产生干扰。探测器的帧率也可调快或调慢...
访问受限。请登录或开始试用以查看此内容。
作者无任何利益冲突需要披露。
作者谨向 Matt Reinke 及 Alcator C-Mod 团队致以感谢,感谢他们设计、建造并测试了 HIREXSR。本工作由美国能源部合同编号 DE-FC02-99ER54512 和 DE-AC02-76CH03073 资助。
访问受限。请登录或开始试用以查看此内容。
| 姓名 | 公司 | 目录编号 | 评论 |
|---|---|---|---|
| PILATUS 100k 探测器系统 | DECTRIS | 100k | 已被更新的 PILATUS3 探测器取代 |
| 布拉格晶体 | 库尔恰托夫研究所 | 定制部件 | |
| CaF2 载玻片 | LeBow | 定制部件 | |
| 高纯度氩气 | Airgas | AR HP300 | 任何高纯度氩气均可使用 |
| 铍窗 | Brush Wellman Electrofusion Products / Motion Hightech | 定制部件 |
访问受限。请登录或开始试用以查看此内容。
申请许可以重复使用本 JoVE 文章的文本或图表
申请许可