我们报道了在与同步辐射X射线联用的多面砧变形装置中对岩石和矿物集合体进行压缩实验的详细步骤。此类实验能够量化样品内部的应力分布,从而为地质材料中的压实过程提供深入认识。
方法文章
我们报道了在与同步辐射X射线联用的多面砧变形装置中对岩石和矿物集合体进行压缩实验的详细步骤。此类实验能够量化样品内部的应力分布,从而为地质材料中的压实过程提供深入认识。
本文报道了在与同步辐射X射线联用的多面砧变形装置(D-DIA)中对岩石和矿物集合体进行压缩实验的详细步骤。在室温条件下,制备立方体状样品组件,并分别通过四颗X射线透明的烧结金刚石压砧(位于侧向平面)和两颗碳化钨压砧(位于垂直平面)对其进行压缩。全部六个压砧均安装于一台250吨液压机内,并由两个楔形导向块同时驱动向内运动。一束水平方向的能量色散X射线穿过样品组件并发生衍射。该X射线通常采用白光或单色X射线模式。在白光X射线模式下,衍射X射线由固态探测器阵列接收,采集所得的能量色散衍射图谱;在单色X射线模式下,则使用二维(2-D)探测器(如成像板或电荷耦合器件(CCD)探测器)记录衍射图谱。通过分析二维衍射图谱可获得晶格间距。样品的弹性应变由晶粒内部的原子晶格间距变化推导得出。随后,结合已知的弹性模量和测得的弹性应变,计算出应力值。此外,二维应力分布信息有助于理解应力在不同取向上的分布特征。同时,在X射线路径中设置的闪烁体可生成样品环境的可见光图像,从而精确测量实验过程中样品长度的变化,直接获得样品的体积应变数据。此类实验可量化地质材料内部的应力分布,进而揭示导致压实作用的机制。这些知识有望显著提升我们对岩石力学、岩土工程、矿物物理及材料科学等领域中压实过程相关关键机制的理解。
本文所介绍方法的原理在于量化岩石和矿物集合体样品在压缩及后续压实过程中的应力分布。了解岩石和矿物集合体的压实行为对于储层工程和岩土工程具有重要意义8,17,18,19,20,28,33。压实作用会降低孔隙度,从而导致孔隙压力升高。任何孔隙压力的升高都会引起有效压力的降低35。其结果是储层岩石的强度将显著减弱,因而可能在较低应力下发生过早破坏。地下非弹性变形所导致后果的一些实例包括:油气储层长期生产能力的丧失28,33、地表沉降8,18,19,20,以及流体流动模式的改变17。因此,全面了解岩石和矿物集合体中的压实过程,有助于降低此类潜在不利后果发生的可能性。
此处强调的方法的最大优势在于,它能够提供一种量化岩土材料内部应力分布的手段5,6 相对于全球平均的外部施加压力12,22此外,作为一项 原位 实验过程中,应力分布的演化具有时间分辨率。所考虑的外部施加压力范围从相对较低的值(数十兆帕)到较高值(数吉帕)。通过利用单个矿物颗粒内的原子晶格间距作为局部弹性应变的度量,间接测量样品内部的应力。5,6原子晶格间距的测定借助X射线进行,通常采用白色X射线或单色X射线模式。对于白色X射线模式(例如,美国阿贡国家实验室先进光子源(APS)6BM-B光束线上的双晶衍射分析(DDIA),衍射X射线束的强度不仅由单个探测器决定,而是由一组包含10个元件的锗(Ge)探测器阵列测定图1) 分布在方位角为 0°、22.5°、45°、67.5°、90°、112.5°、135°、157.5°、180°、270° 的固定圆周上。在单色 X 射线模式下,使用 CCD 探测器记录衍射图样(例如, 美国阿贡国家实验室先进光子源(APS)地球科学、环境与气候研究站(GSECARS)13-ID-D 光束线上的 DDIA-3018,23两种X射线模式均可对不同取向下的应力变化进行定量分析。该方法与以往所有关于地质材料压实现象的研究有本质区别。
在典型的压实研究中,圆柱形样品受到由执行器施加于横截面上的轴向力而被压缩25。在此类条件下,所施加应力的大小通常通过将轴向力(由载荷传感器测量)除以样品的初始横截面积来简单计算。需要注意的是,该施加的应力值仅为一个平均的、整体的数值,因此并不能真实反映局部应力状态在复杂、非均质的颗粒材料内部的变化或分布情况。碎屑沉积岩是复杂颗粒材料的典型例子,由矿物颗粒聚集后经沉积和成岩作用压实并胶结形成1,7,21,30,31。这些聚集体天然具有颗粒间孔隙,即由颗粒堆积几何形态及次生溶解作用共同决定的空隙空间。因此,任何施加的应力预期将由颗粒间的接触点承担并在此处集中,而在颗粒-孔隙界面处则趋于消失。
除了颗粒材料内部应力变化的复杂性之外,其他因素也进一步增加了在这些情况下研究压实过程的难度。首先,局部应力场容易受到微结构特征(例如,颗粒形状、先存裂隙)的影响,而这些特征不可避免地存在于任何碎屑沉积岩中。其次,尽管作用在样品表面的施加应力大小可以被完全量化,但样品内部的应力分布仍难以准确限定。端部效应32——一种边界效应,由于界面摩擦,平均应力集中在加载压头与样品接触区域附近——在圆柱形样品受到压缩加载时已被广泛认知。例如,Peng26 展示了在不同端部条件下经受单轴压缩的花岗岩样品内部的应变非均质性。因此,为了准确计算颗粒材料中的局部应力分布,本文提供了以下详细方案:利用位于阿贡国家实验室先进光子源(APS)6-BM-B线站的多面砧变形装置,对岩石和矿物集合体开展X射线衍射(XRD)实验。
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1. 样品制备




2. 细胞组装制备
3. 实验步骤
注意:以下实验在美国阿贡国家实验室先进光子源(APS)的6-BM-B线站(图4a)进行。在6-BM-B线站进行的实验采用白光X射线模式。该线站为开放线站,欢迎来自全球的科学家、研究人员和学生提交实验提案,通过其普通用户计划开展实验。
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我们展示了一个来自XRD实验(实验编号SIO2_55)的典型结果示例,该实验在6BM-B线站的多面砧压机中对石英集合体样品进行。5,6 和燧石岩芯样本6石英集合体和燧石的粒径分别约为4 µm和6–9 µm5,6本实验期间采集的部分衍射谱图如图所示 图8在常压下,石英集合体与燧石的衍射谱基本无法区分(实验编号 SIO2_55peak2-Set1) 图8)。具体而言,这两种地质材料的所有衍射峰的相对强度、峰宽和峰位均无法区分。在后续压缩过程中,燧石的衍射峰宽度随压力增加保持不变;然而,石英集合体的峰宽则显著展宽。 图8 ...
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我们介绍了在6-BM-B线站使用多面砧装置进行XRD实验的详细步骤。上述方案中最关键且最具挑战性的步骤之一是优化样品质量。样品质量的重要性几乎适用于所有岩石与矿物变形实验。首先,岩心端面必须平整,两端相互平行,同时垂直于圆柱面。这将确保通过压砧施加的外力能够更均匀地分布在整个样品端面上。除端面外,样品所形成的圆柱面轮廓也十分重要,因为样品体积计算依赖于几何假设。
如第1节中的说明所述,有必要再次强调,本文介绍的方法绝不是制备高质量样品的唯一方案,也可使用其他设备获得类似质量的结果。这种实验方案的灵活性同样适用于组装样品池(第2节)。事实上,可以采用多种实用或创新性的修改方式。例如,样品池组件中的许多部件(例如,钽)可用成本较低但性能相似的材料替代。此外,还可根据实验目的进行相应调整。例如,本文所述方法可进一步扩展至包含更高温度条件的实验。实验步骤(第3节)可根据所研究的假设、参数(例如,超声波传播44,45)以及所需的数据质量(<...
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作者声明无利益冲突。
作者谨此衷心感谢两位匿名同行评审专家以及 JoVE 高级审稿编辑 Alisha DSouza 博士所提出的宝贵意见。本研究在阿贡国家实验室先进光子源(APS)的 6-BM-B 实验站完成。该设施的使用得到了地球科学材料性质研究联盟(COMPRES)在美国国家科学基金会(NSF)合作协议 EAR 11-57758、EAR 1661511 以及纽约州立大学石溪分校矿物物理研究所的支持。作者感谢美国国家科学基金会通过项目编号 EAR 1361463、EAR 1045629 和 EAR 1141895 为本研究提供的经费支持。本研究使用了先进光子源的资源,该设施是美国能源部(DOE)科学办公室下属、由阿贡国家实验室根据合同号 DEAC02-06CH11357 为能源部科学办公室运行的用户设施。压腔组件属于 COMPRES 多面砧压腔组件开发项目的一部分。所有数据文件可根据请求向作者获取(邮箱:scheung9@wisc.edu)。样品和数据已归档于纽约州立大学石溪分校矿物物理研究所。
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