本文报道了有序纳米多孔碳(孔径为4.6 nm)和SBA-15(孔径为5.3 nm)的合成与表征。该研究描述了纳米多孔分子筛的表面与结构特性、润湿性,以及限域于这些材料中的D2O的熔融行为。
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本文报道了有序纳米多孔碳(孔径为4.6 nm)和SBA-15(孔径为5.3 nm)的合成与表征。该研究描述了纳米多孔分子筛的表面与结构特性、润湿性,以及限域于这些材料中的D2O的熔融行为。
本研究报道了孔径为4.6 nm的有序纳米多孔碳材料(亦称有序介孔碳材料[OMC])以及孔径为5.3 nm的有序二氧化硅多孔基质SBA-15的合成与表征。本文描述了纳米多孔分子筛的表面性质、润湿性,以及D的熔化行为2O₂被限域在具有相似孔径但不同有序度的多孔材料中。为此,合成了具有高度有序纳米孔结构的OMC和SBA-15 通过 通过分别施加碳前驱体和采用溶胶-凝胶法对二氧化硅基质进行浸渍。通过N₂吸附-脱附等温线对所研究体系的孔隙结构进行表征。2 77 K下的吸附-脱附分析。为确定合成材料表面的电化学性质,进行电位滴定测量;所得结果表明,有序介孔碳(OMC)具有显著的pH依赖性pzc 向较高pH值偏移,相较于SBA-15。这表明所研究的有序介孔碳(OMC)具有与含氧官能团相关的表面性质。为描述材料的表面特性,还测定了液体在所研究多孔介质中渗透的接触角。毛细上升法证实了二氧化硅孔壁相对于碳孔壁具有更高的润湿性,并表明孔道粗糙度对流体/壁面相互作用存在影响,这种影响在二氧化硅介孔中比在碳介孔中更为显著。我们还研究了D的熔融行为2通过介电法将O限制在OMC和SBA-15中。结果表明,D的熔点降低2OMC孔隙中O的熔点比在尺寸相近(5 nm)的SBA-15孔隙中高出约15 K,这是由于所研究基质中吸附质/吸附剂相互作用的影响所致。
1992年,人们首次利用有机模板合成了有序纳米多孔二氧化硅材料;自那时以来,大量关于这些结构的各个方面、合成方法、性质研究、改性手段及其不同应用的文献相继发表1,2,3。人们对SBA-15纳米多孔二氧化硅基质4的关注源于其独特的性能:高比表面积、孔径分布均匀的大孔以及良好的化学和机械性能。具有圆柱形孔道结构的纳米多孔二氧化硅材料(如SBA-155)常被用作催化剂的多孔载体,因其在有机反应中表现出高效的催化活性6,7。该类材料可通过多种方法合成,而不同的合成方法会影响其特性8,9,10。因此,优化这些合成方法对于其在电化学器件、纳米技术、生物学与医学、药物递送系统以及粘附与摩擦学等多个领域的潜在应用至关重要。本研究展示了两种不同类型的纳米多孔结构,即二氧化硅和碳质多孔基质。为比较其性能,采用溶胶-凝胶法合成了SBA-15基质,并通过将所得二氧化硅基质浸渍于碳前驱体中,制备出有序纳米多孔碳材料。
多孔碳材料因其高比表面积以及独特且明确的理化性质,在许多应用中具有重要意义6,11,12。传统的制备方法通常得到孔隙随机分布、结构无序的材料,且对总体孔结构参数的调控能力有限,因此所得材料的孔径分布相对较宽13。而对于具有高比表面积和有序纳米孔体系的纳米多孔碳材料,其可调控性更为广泛。在诸多应用中,实现对孔道内理化过程的几何结构预测和更精确的控制至关重要,例如作为催化剂、分离介质系统、先进电子材料以及多个科学领域的纳米反应器14,15。
为了获得多孔碳复制品,有序硅酸盐可作为固体基质,直接引入碳前驱体。该方法可分为若干步骤:有序硅材料的选择;碳前驱体在硅基质中的沉积;碳化;随后去除硅基质。通过此方法可制备多种不同类型的碳材料,但并非所有非多孔材料都具有有序结构。该过程中的一个重要环节是选择合适的基质,其纳米孔必须形成稳定且三维的结构16。
本研究探讨了孔壁类型对合成介孔基质表面性质的影响。OMC材料的表面性质通过其二氧化硅类似物(SBA-15)的表面性质来反映。两种材料(OMC和SBA-15)的结构与织构特性通过低温N2吸附/脱附测试(77 K下)、透射电子显微镜(TEM)以及能量色散X射线分析(EDX)进行表征。
低温气体吸附/脱附测量是多孔材料表征过程中最重要的技术之一。由于氮气纯度高,并且能够与固体吸附剂产生较强的相互作用,因此常被用作吸附质。该技术的重要优势在于拥有操作简便的商用仪器以及相对简单的数据处理流程。氮气吸附/脱附等温线的测定基于在77 K温度下,于较宽的压力范围(P/P0)内,吸附质分子在固体吸附剂表面的累积。采用Barrett、Joyner和Halenda(BJH)方法,由实验测得的吸附或脱附等温线计算孔径分布。BJH方法最关键的假设包括表面为平面,以及吸附质在被研究表面上均匀分布。然而,该理论基于开尔文(Kelvin)方程,至今仍是计算介孔范围内孔径分布最广泛使用的方法。
为了评估样品的电化学特性,采用电位滴定法。材料的表面化学性质取决于与表面杂原子或官能团相关的表面电荷。同时通过接触角分析研究表面性质。孔隙内部的润湿性可提供关于吸附质与吸附剂之间相互作用的信息。利用介电弛豫谱(DRS)技术研究两种样品中孔壁粗糙度对受限水熔点的影响。通过测量介电常数,可以研究熔融现象,因为液相和固相的极化率彼此不同。电容随温度变化的斜率发生改变,表明系统中发生了熔融过程。
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1. OMC 材料的制备
2. 介孔二氧化硅SBA-15基质的制备
3. 表征方法
(1)
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为了表征OMC和SBA-15样品的多孔结构,记录了77 K下的N2吸附-脱附等温线。表征所研究体系的实验N2气体吸附-脱附等温线,以及根据吸附和脱附数据获得的孔径分布(PSD),如图1A-D所示。吸附等温线上的拐点位置(图1A、C)指示了介孔填充过程开始时对应的压力。该信息用于根据开尔文方程计算平均孔径和孔径分布(图1B、D)。
图 2A-C 展示了有序介孔碳(OMC)的透射电子显微镜(TEM)图像。
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制备有序介孔碳材料的关键步骤包括:利用具有明确结构特性的有序介孔二氧化硅材料作为模板,其结构特性会影响最终材料的性能;以及在氮气氛围下进行退火/碳化处理。对具有柱状孔道的有序介孔硅酸盐典型制备方法的改进28 关注一种非典型的结构导向剂PE10500聚合物在改善材料结构性能方面的应用。制备介孔碳材料需要具有三维、相互连通且稳定的多孔结构的模板。此外,该制备方法的一个关键缺点是必须通过样品处理去除模板。此步骤中所用化学品的性质可能影响碳材料的表面特性及其功能基团。根据所述策略,有序介孔碳(OMC)的负复制结构制备基于有序介孔固体模板。孔径控制和对称有序性仅由二氧化硅模板决定,而不依赖于碳前驱体与模板之间的相互作用。文献已表明OMC在多种电化学体系中具有应用潜力29,30本文提出的浸渍机制可有效实现对二氧化硅模板负结构的精确复制。硬模板法的特性确保了热解过程对规则有序结构的破坏较小。此外,该方法有利于介孔碳材料在固体模板内更易发生石墨化。
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作者无任何利益冲突需要披露。
作者感谢国家科学中心提供的经费支持,项目编号为 DEC-2013/09/B/ST4/03711 和 UMO-2016/22/ST4/00092。作者还感谢波兰操作计划提供的部分支持 人力资本 PO KL 4.1.1,以及国家研究与发展中心授予的科研项目编号 PBS1/A9/13/2012 的资助。作者特别感谢波兰卢布林玛丽亚·斯克沃多夫斯卡-居里大学化学学院界面现象研究部的 L. Hołysz 教授,感谢她慷慨支持并协助完成 SBA-15 纳米孔中润湿性的测量。
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| 姓名 | 公司 | 目录编号 | 评论 |
|---|---|---|---|
| 1,3,5-三甲基苯 | Sigma-Aldrich, Poland | M7200 Sigma-Aldrich | 间三甲苯,又称1,3,5-三甲基苯,试剂级,纯度:98%。 |
| 无水乙醇 | POCH, Avantor Performance Materials Poland S.A. | 396480111 | 纯度 ≥ 99.8%,分析纯(a.p.) |
| ASAP 2020 加速比表面积与孔隙分析系统 | Micromeritics Instrument Corporation, Norcross, GA, USA | 样品在分析前于分析仪的脱气口在120 oC下脱气24小时。使用氦气作为吸附质,通过实验测量校准死体积。 | |
| 自动滴定仪 Dosimat 665 | Metrohm, Switzerland | 表面电荷性质通过恒温20°C下对悬浮液进行电位滴定实验测定,温度由恒温装置控制。电位滴定测量前,固体样品在120 oC下干燥24小时。初始pH值通过加入0.3 cm3的0.2 mol/L HCl调节。滴定剂为0.1 mol/L NaOH溶液,通过自动滴定仪逐步加入。 | |
| 数字pH计 pHm-240 | Radiometer, Copenhagen | 与自动滴定仪联用的设备 | |
| 乙醇 | POCH, Avantor Performance Materials Poland S.A. | 396420420 | 纯度 ≥ 96%,分析纯(a.p.) |
| 葡萄糖 | POCH, Avantor Performance Materials Poland S.A. | 459560448 | 纯度 99.5% |
| 盐酸 | POCH, Avantor Performance Materials Poland S.A. | 575283115 | 盐酸,35 - 38%,分析纯(a.p.) |
| HOPG石墨基底 | Spi Supplies | LOT#1170906 | HOPG SPI-2级,20x20x1 mm |
| 阻抗分析仪 Solartron 1260 | Solartron | ||
| Pluronic PE 6400 聚合物 | BASF (Polska) | (EO13PO70EO13) | |
| Pluronic PE10500 | BASF Canada Inc. | 摩尔质量 6500 g/mol | |
| 氢氧化钾 | Sigma-Aldrich, Poland | P5958 Sigma-Aldrich | BioXtra,≥85% KOH 基准 |
| SEM显微镜 | JEOL JSM-7001F | 带EDS检测器的扫描电子显微镜 | |
| Sigma 力学张力计 701 | KSV, Sigma701, Biolin Scientific | 力学张力计 | |
| 硫酸(VI) | POCH, Avantor Performance Materials Poland S.A. | 575000115 | |
| KS 324 Kavalier型表面玻璃 | Megan Poland | 含80% SiO₂、11% Na₂O 和9% CaO | |
| Tecnai G2 T20 X-TWIN | FEI, USA | 带EDX检测器的透射电子显微镜。 | |
| TEM显微镜 | JEOL JEM-1400 | ||
| 温度控制器 ITC503 | Oxford Instruments | ||
| 正硅酸四乙酯 | Sigma-Aldrich, Poland | 131903 | 四乙氧基硅烷,TEOS,试剂级,纯度98% |
| 超纯水 | Millipore, Merck KGaA, Darmstadt, Germany | SIMSV0001 | Simplicity 水纯化系统超纯水:18.2 兆欧·cm,TOC:<5 ppb |
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