本文提出了一种用于阐明集料表面形貌对界面过渡区(ITZ)微观结构影响的实验方案。通过数字图像处理对扫描电镜-背散射电子(SEM-BSE)图像进行定量分析,以获得ITZ的孔隙率梯度,并进一步采用K-means聚类算法建立孔隙率梯度与表面粗糙度之间的关系。
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本文提出了一种用于阐明集料表面形貌对界面过渡区(ITZ)微观结构影响的实验方案。通过数字图像处理对扫描电镜-背散射电子(SEM-BSE)图像进行定量分析,以获得ITZ的孔隙率梯度,并进一步采用K-means聚类算法建立孔隙率梯度与表面粗糙度之间的关系。
本文介绍了一种综合方法,用于揭示集料周围界面过渡区(ITZ)分布的不均匀性,以及集料表面形貌对ITZ形成的影响。首先,制备一种模型混凝土试样,在水泥基体的大致中心位置嵌入一个球形陶瓷颗粒,用作普通混凝土/砂浆中的粗集料。养护至预定龄期后,采用X射线计算机断层扫描技术对试样进行扫描,以确定陶瓷颗粒在水泥基体内的相对位置。选取ITZ的三个位置:集料上方、集料侧面和集料下方。经过一系列处理后,使用扫描电镜背散射电子(SEM-BSE)探测器对样品进行扫描。所得图像进一步通过数字图像处理方法(DIP)进行分析,以获取ITZ的定量特征。基于数字图像,在像素级别上对表面形貌进行表征。随后,采用K-均值聚类方法揭示表面粗糙度对ITZ形成的影响。
在介观尺度上,水泥基材料可被视为由水泥浆体、骨料以及两者之间的界面过渡区(ITZ)组成的三相复合材料1,2。ITZ 通常被认为是薄弱环节,因其较高的孔隙率可能成为有害物质侵入的通道3,4,或为裂纹扩展提供更易通行的路径5,6,7,8,9,10,11。因此,精确表征 ITZ 的性质,对于评估和预测水泥基材料的宏观性能具有重要意义。
为了研究界面过渡区(ITZ),已有大量研究通过实验和数值方法对其微观结构特征、形成机制及影响因素进行了探讨12,13,14。多种技术已被联合用于ITZ的表征,包括:力学测试、传输性能测试、压汞法(MIP)测试15,16以及纳米压痕技术17。普遍认为,ITZ的形成主要归因于壁面效应,以及水膜、微泌水、单侧生长和凝胶收缩等因素18。
随着近二十年来数字图像处理方法(DIP)的发展19,界面过渡区(ITZ)的形态特征(如体积分数、厚度和孔隙率梯度)可被定量测定。通过使用配备背散射电子探测器(BSE)的扫描电子显微镜(SEM)观察平面截面,可基于体视学理论从二维(2D)结果推导出ITZ的三维(3D)特征20。与SEM-BSE技术类似,纳米压痕技术也基于对抛光表面的检测,但更侧重于现有相的弹性模量21。然而,在SEM-BSE分析和纳米压痕测试中,由于被检测的截面很少恰好沿骨料表面法线方向切割,可能导致ITZ厚度被高估22。然而,若结合荧光三维共聚焦显微镜技术,便可消除这种高估,从而获得真实的ITZ孔隙率以及未水化水泥含量23。
以往关于影响因素的研究主要集中在水泥浆体上,忽略了骨料及其表面纹理的作用24,25,26。尽管已有大量研究基于扫描电子显微镜(SEM)或X射线计算机断层扫描(X-CT)获得的数字切片的定量分析,对骨料的形状和形态特性进行了详细描述27,28,但尚未开展针对骨料表面纹理对界面过渡区(ITZ)形成影响的研究。
本文提出了一种基于扫描电镜-背散射电子(SEM-BSE)图像的定量分析和K均值聚类算法,研究集料表面形貌对界面过渡区(ITZ)微观结构形成影响的实验方案。实验制备了以球形陶瓷颗粒作为粗集料的模型混凝土样品。在将样品切开之前,采用X射线计算机断层扫描(X-CT)粗略确定不透明水泥基体中颗粒的相对位置。经过处理获得SEM-BSE图像后,观察到单个集料周围界面过渡区(ITZ)分布不均的现象。此外,定义了一个描述集料表面纹理(以像素级别表征)的表面粗糙度指数(SR)。K均值聚类算法最初应用于信号处理领域,现已被广泛用于图像聚类29,30,本文引入该算法以建立表面粗糙度(SR)与孔隙率梯度(SL)之间的关系。
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1. 含单个陶瓷颗粒的模型混凝土制备
2. 扫描电子显微镜样品制备
3. 背散射图像的采集与处理
4. 数据处理
(1)
(2)
(3)
(4)
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对骨料上方、骨料侧面以及骨料下方的界面过渡区(ITZ)孔隙率分布进行了比较,结果如图432所示。骨料上表面区域的ITZ孔隙率似乎小于骨料侧面或骨料上方区域,表明该处ITZ微观结构更为致密,而骨料下方的ITZ由于微泌水作用始终具有最高的孔隙率。图432显示,即使在同一骨料周围,孔隙分布也不均匀。
为了研究集料表面形貌的影响,分别使用直线和圆弧对人工采集的不规则边界进行拟合,如图532所示。蓝色线表示原始的不规则边界,而拟合曲线由红色线表示。对于所选边界,其形状更接近于一条直线。
根据定义的 SR 和 SL 参数的计算结果,将从不同相对位置到骨料表面的界面过渡区(ITZ)视为一个整体 {(SR<...
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采用X-CT技术粗略确定陶瓷颗粒的几何中心,以确保所分析的表面通过颗粒的赤道面,从而避免因二维伪影导致的界面过渡区(ITZ)厚度高估38。因此,所得结果的准确性在很大程度上取决于被检表面的平整度。通常情况下,更长的研磨和抛光时间有助于获得足够光滑的测试表面。然而,由于水泥浆体与陶瓷颗粒之间的硬度不同,过长的研磨和抛光时间容易在两相之间产生高度差,在所得的背散射电子(BSE)图像上表现为100%孔隙率的间隙。为消除这一影响,应根据材料特性谨慎选择研磨和抛光策略21,39。一旦图像上出现此类间隙,我们选择沿水泥浆体的轮廓捕捉边界,而非精确的骨料表面。
ITZ 的特性由孔隙率梯度推导得出。实际上,还可以从图像中确定水化产物和未水化熟料的体积分数。通过结合使用能量色散光谱(EDS),可以获得该区域内 Ca/Si 比值的变化情况,从而有助于确定 ITZ 的特征参数。本文中获得的 ITZ 厚度约为 70 μm,大于以往研究中报道的...
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我们在此确认,本稿件为我们的原创作品,所有署名作者均已批准该稿件,且对本文无任何利益冲突。
作者衷心感谢国家重点项目研发计划(National Key R&中国国家重点研发计划(2017YFB0309904)、国家自然科学基金(项目编号:51508090 和 51808188)、973 计划(2015CB655100)、高性能土木工程材料国家重点实验室(2016CEM005)。同时,衷心感谢江苏建筑科学研究院有限公司和高性能土木工程材料国家重点实验室对本研究项目的资助。
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| 金刚石抛光膏 | Buehler | 00060210, 00060190, 00060170 | |
| 柴油 | 中国石油 | 0# | |
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| 环氧树脂 | Buehler | 20-3453-128 | |
| 固化剂 | Buehler | 20-3453-032 | |
| 高精度切割机 | Buehler | 2215 | |
| Image J | 美国国立卫生研究院 | 1.52o | |
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