无透镜片上断层显微技术结合多角度照明与像素超分辨率

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2012年8月16日

10.3791/4161-v

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无透镜光学断层成像是一个三维显微技术,在x、y和z方向上的空间分辨率分别达到<1 μm × <1 μm × <3 μm,成像体积可达15–100 mm3,特别适用于与芯片实验室平台的集成。

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CMOS

Chapters in this video

0:05

Title

1:06

Imaging Setup

2:28

Sample Preparation

3:41

Data Acquisition

5:28

Data Analysis

6:44

Results: Images Acquired with Lensfree Optical Tomography

8:13

Conclusion

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