原位 SIMS 与红外光谱法研究经质量选择离子软着陆制备的明确定义表面

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2014年6月16日

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在表面上对质荷比选择的离子进行软着陆是一种制备新型材料的高度可控方法。结合分析手段 原位 二次离子质谱(SIMS)和红外反射吸收光谱(IRRAS)表明,软着陆技术为研究明确定义的物种与表面之间的相互作用提供了前所未有的洞察。

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表面分析

Chapters in this video

0:05

标题

2:13

用于质量选择离子软着陆的金基底羧基自组装单分子膜表面的制备

3:07

质量选择的Ru(bpy)32+离子在羧基自组装单分子膜表面的软着陆

4:17

暴露于反应性气体前后通过原位飞行时间二次离子质谱分析

5:59

软着陆过程中及之后通过原位傅里叶变换离子回旋共振二次离子质谱和红外反射吸收光谱分析

7:28

结果:通过原位二次离子质谱和红外光谱对软着陆于羧基自组装单分子膜表面的有机金属离子的表征

9:39

结论

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