原位 SIMS 与红外光谱法研究经质量选择离子软着陆制备的明确定义表面

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2014年6月16日

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在表面上对质荷比选择的离子进行软着陆是一种制备新型材料的高度可控方法。结合分析手段 原位 二次离子质谱(SIMS)和红外反射吸收光谱(IRRAS)表明,软着陆技术为研究明确定义的物种与表面之间的相互作用提供了前所未有的洞察。

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0:05

Title

2:13

Mounting of COOH-SAM Surfaces on Gold for Soft Landing of Mass-selected Ions

3:07

Soft Landing of Mass-selected Ru(bpy)32+ onto COOH-SAM Surfaces

4:17

Analysis by In Situ TOF-SIMS Before and After Exposure to Reactive Gases

5:59

Analysis by In Situ FT-ICR-SIMS and IRRAS During and After Soft Landing

7:28

Results: Characterization of Organometallic Ions Soft Landed onto COOH-SAMs by In Situ SIMS and IR Spectroscopy

9:39

Conclusion

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