Measurement of X-ray Beam Coherence along Multiple Directions Using 2-D Checkerboard Phase Grating

Shashidhara Marathe; Xianbo Shi; Michael J. Wojcik; Albert T. Macrander; Lahsen Assoufid

doi:10.3791/53025

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Measurement of X-ray Beam Coherence along Multiple Directions Using 2-D Checkerboard Phase Grating

使用2-D棋盘相位光栅X射线束相干测量沿多个方向

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10:39 min

October 11, 2016

DOI: 10.3791/53025-v

Shashidhara Marathe^1,2, Xianbo Shi¹, Michael J. Wojcik¹, Albert T. Macrander¹, Lahsen Assoufid¹

¹X-ray Science Division, Advanced Photon Source,Argonne National Laboratory, ²Division of Science,Diamond Light Source Ltd.

Please note that some of the translations on this page are AI generated. Click here for the English version.

测量协议和数据分析程序，给出用于获得同步辐射X射线源的横向相干沿四个方向同时使用一个单一的2-D棋盘相位光栅。这个简单的技术可应用于的X射线源和X射线光学器件完成横向相干性的表征。

该程序的总体目标是使用分级干涉仪在同步加速器光束线上测量 X 射线束的横向相干性。该技术的主要优点是，它可以通过使用 2D 梯度同时在多个方向上测量 X 射线束的相干特性。虽然该方法在 1-BM 光束线上进行了演示，但在高级光子源上，它可以应用于任何同步加速器光束线。

2D 光栅的制造对于测量不同的光束线相干条件至关重要。相光栅的创建首先需要制造电镀模具。此演示的起点是一块准备好的硅晶片。

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