基于倏逝场的光声技术:表面光学特性评估

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2016年7月26日

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本文介绍了一种利用光声效应结合全内反射来估算材料和表面光学特性的实验方案。该技术基于渐逝场的光声方法可用于构建光声计量系统,以估算材料的厚度、体相及薄膜的折射率,并研究其光学特性。

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消逝场光声效应

Chapters in this video

0:05

标题

0:36

系统搭建

3:21

EFPA系统初始化与光学对准

4:39

全内反射光声光谱技术(TIRPAS)

6:10

光声光谱法/全内反射光声光谱法(PAS/TIRPAS)折射率测量

7:40

光学隧穿光声光谱技术(OTPAS)

8:43

结果:TIRPAS、PAS/TIRPAS和OTPAS技术的代表性数据

9:53

结论

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