使用串行块面和聚焦的Ion光束扫描电子显微镜进行有针对性的研究

10.7K 次观看

被引用 15 次

09:09 分钟

2019年8月10日

10.3791/59480-v

2019年8月10日

10.7K 次观看

在这里,我们提出了一个协议,有效地结合串行块面和聚焦电束扫描电子显微镜的目标领域。这允许在三维中进行高效的搜索,并在大型视野中定位罕见事件。

探索更多视频

Serial Block Face SEM

Chapters in this video

0:04

Title

0:51

Sample Fixation and Processing for Electron Microscopy

3:51

Prepare Embedded Samples for Imaging

5:03

Imaging in the SBF-SEM (Serial Block Face Scanning Electron Microscopy) and Data Processing

6:22

Imaging in the FIB-SEM (Focused Ion Beam SEM)

7:49

Results: SBF-SEM and FIB-SEM Data

8:46

Conclusion

Related Videos