利用原子力显微镜-扫描电化学显微镜联用技术(AFM-SECM)探究纳米材料表面电化学活性

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2021年2月10日

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原子力显微镜(AFM)与扫描电化学显微镜(SECM)联用技术,即AFM-SECM,可用于在纳米尺度上同时获取材料表面的高分辨率形貌和电化学信息。此类信息对于理解纳米材料、电极和生物材料局部表面的异质性特性(如反应性、缺陷和反应位点)至关重要。

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Chapters in this video

0:04

Introduction

1:17

Sample Preparation for AFM-SECM

2:01

Setup and Operation of AFM-SECM

6:24

Results: Topography and Current Imaging of ONBs and Cu2O NPs by AFM-SECM

7:33

Conclusion

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