$$\rightleftharpoonup{xx}$$
$$\longleftharp{xx}$$,
$$\longrightharp{xx}$$,
Die SERGIS-Technik (Spin Echo Resolved Grazing Incidence Scattering) wurde verwendet, um die Längenskalen zu untersuchen, die mit unregelmäßig geformten Kristalliten verbunden sind. Neutronen werden durch zwei gut definierte Magnetfeldbereiche geleitet; eine vor und eine nach der Probe. Die beiden Magnetfeldregionen haben eine entgegengesetzte Polarität und sind so abgestimmt, dass Neutronen, die durch beide Regionen reisen, ohne gestört zu werden, die gleiche Anzahl von Präzesses in entgegengesetzten Richtungen durchlaufen werden. In diesem Fall soll die Neutronenpräzession im zweiten Arm den ersten "echo" haben, und die ursprüngliche Polarisation des Strahls bleibt erhalten. Wenn das Neutron mit einer Probe interagiert und elastisch streut, ist der Pfad durch den zweiten Arm nicht derselbe wie der erste und die ursprüngliche Polarisation wird nicht wiederhergestellt. Die Depolarisation des Neutronenstrahls ist eine hochempfindliche Sonde in sehr kleinen Winkeln (<50'rad), ermöglicht aber dennoch den Einsatz eines hochintensiven, divergierenden Strahls. Die Verringerung der Polarisation des Strahls, der von der Probe im Vergleich zu der der Referenzstichprobe reflektiert wird, kann direkt mit der Struktur innerhalb der Probe zusammenhängen.
Im Vergleich zur streuungsbeobachteten Streuung, die bei Neutronenreflexionsmessungen beobachtet wird, sind die SERGIS-Signale oft schwach und werden wahrscheinlich nicht beobachtet, wenn die In-Ebenen-Strukturen innerhalb der untersuchten Probe verdünnt, ungeordnet, klein und polydisperse oder der Neutronenstreukontrast gering ist. Daher werden mit der SERGIS-Technik höchstwahrscheinlich gute Ergebnisse erzielt, wenn die zu messende Probe aus dünnen Folien auf einem flachen Substrat besteht und Streueigenschaften enthält, die eine hohe Dichte von mittelgroßen Merkmalen (30 nm bis 5 m) enthalten, die Neutronen stark streuen oder die Merkmale auf einem Gitter angeordnet sind. Ein Vorteil der SERGIS-Technik ist, dass sie Strukturen in der Ebene der Probe sonden kann.