24. Juli 2014
Wir beschreiben eine Methode zur Kartierung mechanischer Eigenschaften von Pflanzengewebe mit Hilfe eines Rasterkraftmikroskops (AFM). Wir konzentrieren uns darauf, wie mechanische Veränderungen, die während der Pflanzenentwicklung in der Pflanzenentwicklung auf der Weitfeld-Mesoskala stattfinden, aufgezeichnet werden können, um diese Veränderungen mit Wachstum und Morphogenese korrelieren zu können.