In-situ-SIMS und IR-Spektroskopie von gut definierten Oberflächen durch weiche Landung der Messe-Ionen ausgewählt Vorbereitet

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16. Juni 2014

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Weiche Landung der massenselektierten Ionen auf Oberflächen ist ein leistungsfähiges Konzept für die hoch-gesteuerte Herstellung von neuen Materialien. Mit der Analyse von in-situ-Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) und Infrarot-Reflexions-Absorptions-Spektroskopie (IRRAS) gekoppelt ist, bietet weiche Landung beispiellose Einblicke in die Wechselwirkungen von gut definierten Arten mit Oberflächen.

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Oberflächenanalyse

Chapters in this video

0:05

Titel

2:13

Montage von COOH-SAM-Oberflächen auf Gold für das Soft Landing massenselektierter Ionen

3:07

Soft Landing massenselektierter Ru(bpy)32+ auf COOH-SAM-Oberflächen

4:17

Analyse mittels *In Situ* TOF-SIMS vor und nach der Exposition gegenüber reaktiven Gasen

5:59

Analyse mittels *In Situ* FT-ICR-SIMS und IRRAS während und nach dem Soft Landing

7:28

Ergebnisse: Charakterisierung von organometallischen Ionen, die mittels Soft Landing auf COOH-SAMs aufgebracht wurden, durch *In Situ* SIMS und IR-Spektroskopie

9:39

Schlussfolgerung

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