Compact-Objektiv lose digitale holografische Mikroskop für MEMS-Inspektion und Charakterisierung

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5. Juli 2016

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Wir präsentieren eine kompakte Reflexion digitale holografische System (CDHM) zur Inspektion und Charakterisierung von MEMS-Bauelementen. Ein linsenloses Design einen divergierenden Eingangswelle bietet natürliche geometrische Vergrößerung verwendet wird demonstriert. Sowohl statische als auch dynamische Studien vorgestellt.

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Digitale Holographie

Chapters in this video

0:05

Titel

1:05

Vorbereitungen

3:52

Datenerfassung

5:38

Datenanalyse für statische Messungen

6:40

Probenvorbereitung und Datenanalyse für dynamische Messungen

7:42

Ergebnisse: CDHM im Vergleich zur Rasterkraftmikroskopie und weitere Ergebnisse

9:17

Fazit

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