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11:30 Min.
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6. März 2017
6. März 2017
•Eine zeitaufgelöste Mikrowellenleitfähigkeitstechnik zur Untersuchung der direkten und Fallen-vermittelten Rekombinationsdynamik und zur Bestimmung der Ladungsträgermobilitäten von Dünnschichthalbleitern wird hier vorgestellt.
Chapters in this video
0:05
Titel
0:38
Vorbereitung des Experiments
1:41
Kopplung des Freistrahllasers in eine Faser
2:41
Messung des Hohlraum-Verlustfaktors und Montage der Probe
3:51
Kalibrierung der Hohlraumempfindlichkeit
5:10
Bestimmung der optimalen Messparameter
7:17
Messung der zeitaufgelösten Mikrowellenleitfähigkeitskurven in Abhängigkeit von der Mikrowellensonden-Frequenz
8:01
Intensitätsabhängige Datenserie
9:00
Ergebnisse: Zeitaufgelöste Mikrowellenleitfähigkeitscharakterisierung der Rekombinationsdynamik in CH3NH3PbI3
10:29
Fazit
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