Rekombinationsdynamik in Dünnschicht-Photovoltaik-Materialien über zeitaufgelöste Mikrowellenleitfähigkeit

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11:30 Min.

6. März 2017

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Eine zeitaufgelöste Mikrowellenleitfähigkeitstechnik zur Untersuchung der direkten und Fallen-vermittelten Rekombinationsdynamik und zur Bestimmung der Ladungsträgermobilitäten von Dünnschichthalbleitern wird hier vorgestellt.

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Dünnschichtphotovoltaik

Chapters in this video

0:05

Titel

0:38

Vorbereitung des Experiments

1:41

Kopplung des Freistrahllasers in eine Faser

2:41

Messung des Hohlraum-Verlustfaktors und Montage der Probe

3:51

Kalibrierung der Hohlraumempfindlichkeit

5:10

Bestimmung der optimalen Messparameter

7:17

Messung der zeitaufgelösten Mikrowellenleitfähigkeitskurven in Abhängigkeit von der Mikrowellensonden-Frequenz

8:01

Intensitätsabhängige Datenserie

9:00

Ergebnisse: Zeitaufgelöste Mikrowellenleitfähigkeitscharakterisierung der Rekombinationsdynamik in CH3NH3PbI3

10:29

Fazit

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