Probenvorbereitungsmethode des Raster- und Transmissionselektronenmikroskops für die Anhänge von Woodboring Beetle

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3. Februar 2020

10.3791/59251-v

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Zur Beobachtung der Ultrastruktur von Insektensensilla wurden in der Studie Raster- und Transmissionselektronenmikroskopie (SEM bzw. TEM) zur Probenvorbereitung vorgestellt. Tween 20 wurde in das Fixativ aufgenommen, um Probenverformungen in SEM zu vermeiden. Fluoreszenzmikroskopie war hilfreich, um die Schnittgenauigkeit in TEM zu verbessern.

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Scanning Electron Microscopy

Chapters in this video

0:05

Introduction

1:23

SEM Sample Preparation and Imaging

4:40

TEM Sample Preparation and Imaging

8:26

Results: SEM and TEM

9:42

Conclusion

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